QFN測(cè)試座
QFN測(cè)試座屬性
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QFN測(cè)試座描述
北京華凱達(dá)電子提供最全的QFN/MLF/DFN等封裝之IC測(cè)試/老化測(cè)試插座,腳距從0.4mm至1.0mm,常用型號(hào)均備有大量現(xiàn)貨.同時(shí)依托歐洲領(lǐng)先的BGA/QFN測(cè)試產(chǎn)品生產(chǎn)工藝,為客戶提供優(yōu)質(zhì)的QFN/MLF/DFN測(cè)試插座產(chǎn)品,并可根據(jù)客戶芯片的規(guī)格,提供定制化的服務(wù).
SPECIFICATIONS (mm):
• Available in .40, .50, .65, .80 and 1.00 mm pitches
• Custom pitches down to .30 mm
• Lidded and Open Top Sockets for 3 mm - 10 mm packages
• Lidded Sockets for 10 - 16 mm packages
• Center ground pin standard for all sockets
• Optional copper heat slug available for high wattage devices
• Sockets for over 80 different JEDEC standard footprints
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