如圖2 -22所示， ADM202EARNZ由光電檢測器3探測待測物體1所輻射出的功率、光譜分布等參數(shù)，以確定待測物體的存在，根據(jù)所處方位以及其光譜的分布情況來分析它的物質(zhì)成分及性質(zhì)，如報(bào)火警、偵察、跟蹤、武器制導(dǎo)、地形地貌普查分析、光譜分析及太陽能利用等。下面以全輻射測溫為例說明這種方式的應(yīng)用情沉。

   由斯忒藩一玻耳茲曼( Stefan - Boltzman)定律可知，物件的全輻射出射度s為比輻射率，對于某一物體，其為常數(shù)；盯為斯忒藩一波爾茲曼常數(shù)；丁為絕對溫度。在近距離測量時(shí)，可不考慮大氣對輻射的吸收作用，則光電檢測器輸出的電壓信號Vs =M。f，f為光電變換系數(shù)，將式(2 - 34)代人上式得 式(2 -35)表明，光電檢測器輸出的電壓信號vs是溫度r的函數(shù)，與溫度丁的四次方成正比。因此，可以通過測量輸出電壓vs來測量輻射體的溫度。

   如圖2 -23所示，由待測物體2把光反射到光電檢測器上。如果是鏡面反射，則光按一定方向反射，它往往被用來判斷光信號的有無，可用于光電準(zhǔn)直、電機(jī)等轉(zhuǎn)動(dòng)物體的轉(zhuǎn)速測量等。如果是漫反射，則一束平行光照射到某一表面上時(shí)，光向各個(gè)方向反射出去。因此在漫反射某一位置上的光電檢測器只能接收到部分反射光，接收到的光通量的大小與產(chǎn)生漫反射表面材料的性質(zhì)、表面粗糙度以及表面缺陷等因素有關(guān)。因而，采用這種方式可檢測物體的外觀質(zhì)量。在產(chǎn)品外觀質(zhì)量檢測時(shí)，光電檢測器輸出信號可表示為

    Vs=Ev(r2-rl )Sg    (2-36)

    式中，Ev是被檢測表面的光照度；占是光電變換系數(shù)；r2是無缺陷表面的反射率；ri是缺陷表面的反射率；S是光電檢測器有效視場內(nèi)缺陷所占面積。

   由式(2 -36)可知，當(dāng)Ey、r2和s為確定值時(shí)，vs僅與ri和Is有關(guān)，而缺陷表面反射率ri與缺陷的性質(zhì)有關(guān)。所以，從Vs值的大小可以判斷出缺陷的大小和面積。另外，激光測距、激光刷導(dǎo)、主動(dòng)式夜視、電視攝像、文字判讀等方面的應(yīng)用均屬于這種方式。