①白光干涉法。D-500-0456-2-612-078利用低相干度的光源( LED)，可以得到中心位置清楚、邊緣模糊的干涉條紋。不同溫度或者應(yīng)變對應(yīng)的干涉條紋中心位置是變化的，不同待測量對應(yīng)不同位置，所以，可以實(shí)現(xiàn)絕對測量。圖11  - 24所示為白光測量原理圖。

   圖11 - 24采用低相干白光光源的光纖干涉?zhèn)鞲衅?/span>

   ②補(bǔ)償干涉的方法。補(bǔ)僂干涉法即利用兩個(gè)干涉儀，一個(gè)用于測量，一個(gè)用于補(bǔ)償，測量原理與前面光電檢測方法中的弱光信號檢測中的鎖相放大器測量樣品透過率中的可變衰減器的補(bǔ)償作用類似，也就是通過補(bǔ)償干涉儀將干涉現(xiàn)象調(diào)回到測量前的狀態(tài)，然后讀出補(bǔ)償干涉儀調(diào)了多大的相位，此相位即對應(yīng)待測量的大小。圖11 - 25和圖11 - 26為補(bǔ)償法測量的兩個(gè)應(yīng)用例子原理示意圖。