基面統(tǒng)一原則
發(fā)布時間:2015/5/23 21:15:03 訪問次數(shù):871
以上幾條原則,FDG6320C一般都是從儀器總體出發(fā)考慮的。而基面統(tǒng)一原則,則主要是針對儀器中的零件設(shè)計及部件裝配要求來說的。這條原則是指:在設(shè)計零件時,應(yīng)該使零件的設(shè)計基面、工藝基面和測量基面保持一致。符合這個原則,才能使工藝上或測量上經(jīng)濟(jì)地獲得規(guī)定的精度要求而避免附加的誤差。對于部件裝配,則要求設(shè)計基面、裝配基面和測量基面一致。
(1)設(shè)計基面:零件工作圖上標(biāo)注尺寸的基準(zhǔn)面。
(2)工藝基面:用它定位,加工其他工作面。
(3)裝配基面:以它為基準(zhǔn),確定零件之間的相互位置。
如圖2 -36所示的某投影儀反射鏡機(jī)構(gòu),A面為裝配基面,加工時,反射鏡座的曰、C面應(yīng)當(dāng)以A面為工藝基面,例如以A面定位銑出曰、C面。鏡座工作圖申標(biāo)注尺寸有兩種方式:一種是標(biāo)注Z。和Z,;另一種是標(biāo)注/.和Z:。反射鏡的軸向位置在光學(xué)系統(tǒng)中是有要求的,反映在結(jié)構(gòu)上為Z。的公差。按第一種標(biāo)注尺寸的方法,加工B面時,以4面為準(zhǔn),f。的加工誤差A(yù)/o就是Z。的實際誤差;而按照第二種標(biāo)注尺寸的方法,日面從C面計算,Z。由兩個尺寸(Z,和Z:)實現(xiàn),且Z。=Z.一Z:,Z.和Z:的加工誤差為△Z,和△Z:,f。的誤差A/a=A/l+△Z:,一般△f1、AZ:相差不大。設(shè)二者相等,則A//一2A/o,對比兩種方法,前者三個基面統(tǒng)一在4面上,尺寸誤差。缓笳咴O(shè)計基面(C)與工藝裝配基面(A)不統(tǒng)一,尺寸誤差可能要大一倍。
以上幾條原則,FDG6320C一般都是從儀器總體出發(fā)考慮的。而基面統(tǒng)一原則,則主要是針對儀器中的零件設(shè)計及部件裝配要求來說的。這條原則是指:在設(shè)計零件時,應(yīng)該使零件的設(shè)計基面、工藝基面和測量基面保持一致。符合這個原則,才能使工藝上或測量上經(jīng)濟(jì)地獲得規(guī)定的精度要求而避免附加的誤差。對于部件裝配,則要求設(shè)計基面、裝配基面和測量基面一致。
(1)設(shè)計基面:零件工作圖上標(biāo)注尺寸的基準(zhǔn)面。
(2)工藝基面:用它定位,加工其他工作面。
(3)裝配基面:以它為基準(zhǔn),確定零件之間的相互位置。
如圖2 -36所示的某投影儀反射鏡機(jī)構(gòu),A面為裝配基面,加工時,反射鏡座的曰、C面應(yīng)當(dāng)以A面為工藝基面,例如以A面定位銑出曰、C面。鏡座工作圖申標(biāo)注尺寸有兩種方式:一種是標(biāo)注Z。和Z,;另一種是標(biāo)注/.和Z:。反射鏡的軸向位置在光學(xué)系統(tǒng)中是有要求的,反映在結(jié)構(gòu)上為Z。的公差。按第一種標(biāo)注尺寸的方法,加工B面時,以4面為準(zhǔn),f。的加工誤差A(yù)/o就是Z。的實際誤差;而按照第二種標(biāo)注尺寸的方法,日面從C面計算,Z。由兩個尺寸(Z,和Z:)實現(xiàn),且Z。=Z.一Z:,Z.和Z:的加工誤差為△Z,和△Z:,f。的誤差A/a=A/l+△Z:,一般△f1、AZ:相差不大。設(shè)二者相等,則A//一2A/o,對比兩種方法,前者三個基面統(tǒng)一在4面上,尺寸誤差小;后者設(shè)計基面(C)與工藝裝配基面(A)不統(tǒng)一,尺寸誤差可能要大一倍。
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