圖4 -27是二維位置檢測(cè)的基本框圖。它由PSD各電極對(duì)應(yīng)的放大器與模擬運(yùn)算系統(tǒng)組成，EP1C4F400C8N運(yùn)算系統(tǒng)包括用于位置信息變換的X與y軸的加法、減法和除法等運(yùn)算。采用PSD檢測(cè)位置時(shí)，將位于檢測(cè)器表面的光點(diǎn)亮度中心作為輸出，因此，基準(zhǔn)點(diǎn)入射光通量一定要比背景光明亮得多。為了消除背景光造成的誤差，采用與測(cè)量電路同步的LED那樣的紅外光源，并對(duì)LED進(jìn)行調(diào)制，另外，可在PSD表面安裝濾光器，這樣可消除可見(jiàn)光的影響。在不能取出測(cè)量物體的基準(zhǔn)點(diǎn)光源時(shí)，也可以檢測(cè)反射光。然而，這時(shí)檢測(cè)物體要有較高的反射率，而且限于距離不太遠(yuǎn)。從基準(zhǔn)點(diǎn)發(fā)出強(qiáng)光時(shí)，光源與電路即使不同步，也能檢測(cè)到位置，但為了提高測(cè)量精度，要注意背景光與PSD暗電流的影響。

   圖4 -27二維位萱檢測(cè)的基本框圖

   用PSD檢測(cè)位置的信號(hào)輸出表示入射光能量分布的中心位置，焦點(diǎn)模糊的影響小，但同時(shí)有兩點(diǎn)以上的光入射時(shí)，可以得到各自光強(qiáng)度中心位置的信號(hào)輸出。檢測(cè)兩點(diǎn)以上的光源位置時(shí)，可以采用時(shí)分方式點(diǎn)亮光源。這是將高速點(diǎn)亮LED作為測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)，

每次燈亮?xí)r間短，以PSD響應(yīng)速度以上時(shí)間間隔點(diǎn)亮LED，與電路同步而進(jìn)行測(cè)量的方法。采用這種方法，不但可實(shí)時(shí)測(cè)量多點(diǎn)坐標(biāo)，也可以標(biāo)記各基準(zhǔn)點(diǎn)，并能同時(shí)消除背景光的影響，這是采用PSD檢測(cè)位置的優(yōu)點(diǎn)。

   PSD的應(yīng)用與CCD相似，但在位置檢測(cè)方面有自身的優(yōu)點(diǎn)。這些優(yōu)點(diǎn)主要是：響應(yīng)速度快，因不用掃描，響應(yīng)速度只有幾微秒至幾十微秒；分辨力高，且可連續(xù)采樣，不受像元尺寸的限制；位置檢測(cè)輸出與光強(qiáng)度、光斑尺寸無(wú)關(guān)，只與光斑重心有關(guān)，因而不需復(fù)雜的光學(xué)聚焦系統(tǒng)；可同時(shí)進(jìn)行位置與強(qiáng)度的檢測(cè)；信號(hào)檢出方便等。