所有的探測(cè)器的性能都受到隨機(jī)噪聲的限制，它決定著可以測(cè)量的最小功率。噪聲DAC7611PG4源可能在探測(cè)器內(nèi)，也可能在入射輻射之中，還可能在與測(cè)量系統(tǒng)有關(guān)的電子線路之中。任何系統(tǒng)的設(shè)計(jì)目的都必須是減少電子噪聲源，使之低于探測(cè)器的輸出。使探測(cè)系統(tǒng)的內(nèi)部噪聲極小化，從而使整個(gè)系統(tǒng)的噪聲主要是入射輻射噪聲。

   噪聲是由于隨機(jī)過(guò)程引起的，不可能用某一特定時(shí)刻的振幅來(lái)表示。它的值通常用電壓或電流的均方根的和決定。

   在沒(méi)有電偏置的情況下，由于自由載流子在電阻材料中的隨機(jī)運(yùn)動(dòng)而造成為基本噪聲過(guò)程稱(chēng)為熱噪聲或Johnson噪聲。

   在光導(dǎo)器件中，由于載流子密度起伏造成的噪聲稱(chēng)為產(chǎn)生一復(fù)合噪聲，簡(jiǎn)稱(chēng)G-R噪聲。

   在結(jié)型器件中觀察到了擴(kuò)散載流子的散粒噪聲( Shot noise)熱探測(cè)器呈現(xiàn)熱噪聲。

   最后一個(gè)噪聲是1∥噪聲或者稱(chēng)為內(nèi)變?cè)肼�，這時(shí)噪聲的功率和頻率廠成反比關(guān)系。