耗損失效期出現(xiàn)在產(chǎn)品的后期，AS7C164-15JC其特點(diǎn)剛好與早期失效期相反。失效率隨試驗(yàn)或工作時(shí)間增加而迅速上升，出現(xiàn)大批失效。耗損失效是由于產(chǎn)品長(zhǎng)期使用而產(chǎn)生的損耗、磨損、老化、疲勞等原因所引起的。它是構(gòu)成元器件本身的材料長(zhǎng)期化學(xué)、物理不可逆變化所造成的，是產(chǎn)品壽命的“終了”。

   耗損失效期的失效概率分布函數(shù)與m>l的威布爾函數(shù)所描述的曲線相同。

   但是，對(duì)于實(shí)際電子產(chǎn)品并不一定都出現(xiàn)上述三個(gè)階段。例如，工藝質(zhì)量且控制很妤的金屬膜電阻有時(shí)就不出現(xiàn)早期失效期，又如某些半導(dǎo)體器件就沒有發(fā)生耗損失效期。至于個(gè)別產(chǎn)品由于設(shè)計(jì)、生產(chǎn)工藝不合理，只有早期失效期和耗損失效期，這是由于產(chǎn)品質(zhì)量過于低劣，此種產(chǎn)品不能正常使用。從上述“浴盆曲線”也可看出，在成批產(chǎn)品中，有些產(chǎn)品的失效率曲線是遞增型、遞減型和常數(shù)型，而宏觀表現(xiàn)出的是由三種類型的失效率曲線疊加而成，如圖2.4所示。

    圖2.4三種不同類型的失效率曲線