器件絕緣體(MOS柵)
發(fā)布時間:2015/10/28 20:44:24 訪問次數(shù):771
從另一個角度講,感應(yīng)現(xiàn)象就是MOS技術(shù)。在一個MOS晶體管中,K4H561638H-UCB3柵極區(qū)會長一層薄的二氧化硅(見圖7.4)。如果柵上沒有電荷,在源漏之間沒有電流流過(見第16章)。但是有了合適的電荷,在柵下面區(qū)域感應(yīng)出電荷,這樣允許在源漏之間流過電流。氧化層起到介電質(zhì)的功能,它的厚度是專門選定的,用來讓氧化層下面柵極區(qū)產(chǎn)生感應(yīng)電荷。柵極是器件中控制電流的都分(見第】6章)。甚大規(guī)模集成電路( ULSI)中占主導(dǎo)地位的MOS技術(shù),使得柵極的形成成為工藝發(fā)展中關(guān)注的焦點。通常還有其他介質(zhì)材料淀積在柵區(qū)的薄氧化層上。這些組合稱為疊層?xùn)? gate stack),具有不同的介電常數(shù),它能改變晶體管的電性能。熱生成
的氧化層也町用來做硅晶圓表面和導(dǎo)電表面之間形成的電容所需的介電質(zhì)(見圖7.5)。
圖7.4 ■氧化硅作為場氧化層和MOS的柵氧化層 圖7.5 在固態(tài)電容里的二氧化硅層二氧化硅介電層還用在兩層或多層金屬層的結(jié)構(gòu)中。在這種應(yīng)用里,二氧化硅層用化學(xué)氣相淀積( CVD)的方法而不是用熱氧化的方法形成(見第12章)。
從另一個角度講,感應(yīng)現(xiàn)象就是MOS技術(shù)。在一個MOS晶體管中,K4H561638H-UCB3柵極區(qū)會長一層薄的二氧化硅(見圖7.4)。如果柵上沒有電荷,在源漏之間沒有電流流過(見第16章)。但是有了合適的電荷,在柵下面區(qū)域感應(yīng)出電荷,這樣允許在源漏之間流過電流。氧化層起到介電質(zhì)的功能,它的厚度是專門選定的,用來讓氧化層下面柵極區(qū)產(chǎn)生感應(yīng)電荷。柵極是器件中控制電流的都分(見第】6章)。甚大規(guī)模集成電路( ULSI)中占主導(dǎo)地位的MOS技術(shù),使得柵極的形成成為工藝發(fā)展中關(guān)注的焦點。通常還有其他介質(zhì)材料淀積在柵區(qū)的薄氧化層上。這些組合稱為疊層?xùn)? gate stack),具有不同的介電常數(shù),它能改變晶體管的電性能。熱生成
的氧化層也町用來做硅晶圓表面和導(dǎo)電表面之間形成的電容所需的介電質(zhì)(見圖7.5)。
圖7.4 ■氧化硅作為場氧化層和MOS的柵氧化層 圖7.5 在固態(tài)電容里的二氧化硅層二氧化硅介電層還用在兩層或多層金屬層的結(jié)構(gòu)中。在這種應(yīng)用里,二氧化硅層用化學(xué)氣相淀積( CVD)的方法而不是用熱氧化的方法形成(見第12章)。
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