CCD在儲存和轉(zhuǎn)移信息電荷的過程中，作為信FGH60N60SFDTU息的各個少數(shù)載流子，在P-Si內(nèi)保持隔離狀態(tài)，可以認(rèn)為CCD自身是低噪聲器件。但信號電荷在注入、轉(zhuǎn)移和檢測等過程中都疊加了噪聲，使信號再現(xiàn)的精度受到影響。CCD的噪聲歸納起來主要有三類，即散粒噪聲、轉(zhuǎn)移噪聲及熱噪聲。

   散粒噪聲主要表現(xiàn)為微觀粒子的無規(guī)律性，在CCD器件中，無論是用光注入、電注入還是熱產(chǎn)生的信號電荷（電子數(shù)），總有一定不確定性（即隨機(jī)變化），這就引起了散粒噪聲。

   在CCD器件中，由于信號電荷在每次轉(zhuǎn)移后都剩下少部分電荷，對平均值來說，其總有一個漲落。另外，由于界面態(tài)和體內(nèi)陷阱俘獲而發(fā)射的電子，從CCD的一端轉(zhuǎn)移到另一端，也是一個隨機(jī)過程。這樣就構(gòu)成了轉(zhuǎn)移噪聲。

   在CCD器件中，信號電荷注入回路及信號電荷檢出時的復(fù)位回路均可等效為RC回路，由于電阻R的存在，就產(chǎn)生了電阻熱噪聲。

   綜上所述，以上三類噪聲是獨(dú)立無關(guān)的，因此CCD的總噪聲功率應(yīng)是它們的均方和。