Limit devices to type
發(fā)布時間:2016/3/2 22:10:26 訪問次數(shù):577
Limit devices to type(s)：根據(jù)第(1)項的設(shè)置，所有用DEV和／或LOT描述其參數(shù)變化的元器件在最壞情況分析中均應考慮。若用戶在最壞情況分析中只B45192E3336M306要求考慮某幾類元器件的參數(shù)變化，可在本項對話框中填入這幾種元器件的關(guān)鍵字母代號，中間不得有空格。例如，若只考慮電阻和雙極晶體管的參數(shù)變化，則此處應填入RQ。若本項未予設(shè)置，則用內(nèi)定值，即考慮所有元器件的參數(shù)變化。
Save data from each sensitivity run：若選中本項，則將每次靈敏度分析的結(jié)果均存入輸出文件( OUT)。
More Settings
在圖4-22中單擊More Settings按鈕，屏幕上出現(xiàn)圖4-23所示設(shè)置框。該圖與MC分析中的圖4-13相同。其中Worst-Case direction用于設(shè)置最壞情況的方向。若選中Hi，則相對標稱值分析而言，最壞情況方向是指增大方向。若選中Low則指減小方向。對差分對電路實例，輸出減小是最壞方向，因此應該選擇Low。
Limit devices to type(s)：根據(jù)第(1)項的設(shè)置，所有用DEV和／或LOT描述其參數(shù)變化的元器件在最壞情況分析中均應考慮。若用戶在最壞情況分析中只B45192E3336M306要求考慮某幾類元器件的參數(shù)變化，可在本項對話框中填入這幾種元器件的關(guān)鍵字母代號，中間不得有空格。例如，若只考慮電阻和雙極晶體管的參數(shù)變化，則此處應填入RQ。若本項未予設(shè)置，則用內(nèi)定值，即考慮所有元器件的參數(shù)變化。
Save data from each sensitivity run：若選中本項，則將每次靈敏度分析的結(jié)果均存入輸出文件( OUT)。
More Settings
在圖4-22中單擊More Settings按鈕，屏幕上出現(xiàn)圖4-23所示設(shè)置框。該圖與MC分析中的圖4-13相同。其中Worst-Case direction用于設(shè)置最壞情況的方向。若選中Hi，則相對標稱值分析而言，最壞情況方向是指增大方向。若選中Low則指減小方向。對差分對電路實例，輸出減小是最壞方向，因此應該選擇Low。
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