如果將圖4-23中Worst-Case directi9n -項的設(shè)置從Low改為Hi，就可以計算極端情況下Max(V(out2》的最大值。分析過程與上述Worst-Case direction -項設(shè)置為Low的情況類似， B45196H1156K109但是這時最壞情況對應(yīng)于RC1減小和RC2增大，RC1和RC2的模型參數(shù)分別取為R等于0.95和1.05，相應(yīng)Max(V(out2》的最大值為106.37，即極端情況下的電路放大倍數(shù)不會大于106.37，如圖4-24 (b)所示。

   (a)WC分析的Max(V(ou0》最小值為96 25

   (b)WC分析的Max(V(out2》最大值為106.37

   囹4-24差分對電路WC分析結(jié)果

   提示：由WC分析結(jié)果可知，對圖3-1所示差分對電路，如果只考慮集電極負載電阻RC1和RC2存在5%容差的影響，則生產(chǎn)的一批電路產(chǎn)品的放大倍數(shù)雖然存在分散性，但是其分散范圍不會超出96.25～106.37。然而，圖4-21所示的Monte Carlo分析結(jié)果則表明，考慮到RC1和RC2存在5%的容差，導(dǎo)致實際生產(chǎn)的一批電路產(chǎn)品的放大倍數(shù)具有分散性，放大倍數(shù)最小值為88.857，最大值為112.69，竟然明顯超出WC分析給出的分散范圍，顯然這是一種不合理的結(jié)論。

   導(dǎo)致上述問題的原因是因為PSpice AD中的Monte Carlo分析選用Gaussian分布時存在下述Bug:

   實際生產(chǎn)中描述元器件容差DEV的值是指采購的一批合格元器件中每個元器件的值與標(biāo)稱值的偏差不會超出容差確定的范圍。例如，圖3-1所示差分對電路中集電極負載電阻RC1和RC2設(shè)計標(biāo)稱值為lOk，容差DEV為5%，表示生產(chǎn)中使用的這批電阻的阻值分散范圍為9.5~ 10.5k。MonteCarlo分析中通過產(chǎn)生一組服從一定概率分布函數(shù)的隨機數(shù)來描述阻值的分散情況，通常采用正態(tài)分布。根據(jù)正態(tài)分布函數(shù)的特牲，其均值加減3倍標(biāo)準(zhǔn)偏差的范圍對應(yīng)容差范圍，因此，作為描述元器件值分散性的正態(tài)分布函數(shù)，均值取為標(biāo)稱值，標(biāo)準(zhǔn)偏差應(yīng)該取為容差的1/3。