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      電路性能分析的基本步驟

      發(fā)布時(shí)間:2016/3/8 22:16:24 訪問次數(shù):1183

         下面結(jié)合一個(gè)非常簡(jiǎn)單的電路實(shí)例,‘介紹電路性能分析的具

      體步驟。

         眾所周知,A180-WL簡(jiǎn)單RC充放電電路的上升時(shí)間和下降時(shí)間直接與電路中的電阻阻值成正比。下面用電路性能分析的方法定量計(jì)算它們之間的變化關(guān)系。

         繪好如圖5-42所示RC電路后,按下述6個(gè)步驟進(jìn)行性能分析。

         第一步:進(jìn)行參數(shù)掃描分析

         首先設(shè)置參數(shù)。瞬態(tài)分析參數(shù)與圖3-17情況相同。參數(shù)掃描分析參數(shù)的設(shè)置為:電阻Rval從40Q變至400Q,步長(zhǎng)為40Q。參數(shù)設(shè)置完后對(duì)電路進(jìn)行電路模擬計(jì)算。

         第二步:在Probe窗口顯示參數(shù)掃描結(jié)果

         參數(shù)掃描分析后,采用5.2節(jié)介紹的方法,在Probe窗口顯示參數(shù)掃描結(jié)果。

         

         第三步:?jiǎn)?dòng)電路性能分析過程

         在Probe窗口選擇執(zhí)行Trace—Performance Analysis子命令,屏幕上出現(xiàn)如圖5-43歷示Performance Analysis框。

         圖5-43中的內(nèi)容可分為三部分。

         ①說明注釋部分:圖中上半部分是介紹Performance Analysis概念的文字性注釋內(nèi)容。

         ②參數(shù)說明部分:圖5-43中間部分列出了與本次性能分析有關(guān)的下述信息。

         當(dāng)前選中的數(shù)據(jù)批次。圖中為“10 0fl0”,表示10批數(shù)據(jù)全被選用。

         不同批次模擬分析中變化參數(shù)的名稱。圖中為“Rval”,這就是前面進(jìn)行RC電路參數(shù)掃描分析中的變量參數(shù)名。

         參數(shù)的變化范圍。圖中為“40 t0 400 0hms”,即為參數(shù)掃描分析中設(shè)定的Rval變化范圍。

         坐標(biāo)軸變量名。圖中為The Xaxis will be Rval和The Y axis will depend on the Measurement youuse,即顯示電路性能分析結(jié)果時(shí),X軸為變量參數(shù)Rval,Y軸取決于將要選用的電路特性值Measurement函數(shù)。

         下面結(jié)合一個(gè)非常簡(jiǎn)單的電路實(shí)例,‘介紹電路性能分析的具

      體步驟。

         眾所周知,A180-WL簡(jiǎn)單RC充放電電路的上升時(shí)間和下降時(shí)間直接與電路中的電阻阻值成正比。下面用電路性能分析的方法定量計(jì)算它們之間的變化關(guān)系。

         繪好如圖5-42所示RC電路后,按下述6個(gè)步驟進(jìn)行性能分析。

         第一步:進(jìn)行參數(shù)掃描分析

         首先設(shè)置參數(shù)。瞬態(tài)分析參數(shù)與圖3-17情況相同。參數(shù)掃描分析參數(shù)的設(shè)置為:電阻Rval從40Q變至400Q,步長(zhǎng)為40Q。參數(shù)設(shè)置完后對(duì)電路進(jìn)行電路模擬計(jì)算。

         第二步:在Probe窗口顯示參數(shù)掃描結(jié)果

         參數(shù)掃描分析后,采用5.2節(jié)介紹的方法,在Probe窗口顯示參數(shù)掃描結(jié)果。

         

         第三步:?jiǎn)?dòng)電路性能分析過程

         在Probe窗口選擇執(zhí)行Trace—Performance Analysis子命令,屏幕上出現(xiàn)如圖5-43歷示Performance Analysis框。

         圖5-43中的內(nèi)容可分為三部分。

         ①說明注釋部分:圖中上半部分是介紹Performance Analysis概念的文字性注釋內(nèi)容。

         ②參數(shù)說明部分:圖5-43中間部分列出了與本次性能分析有關(guān)的下述信息。

         當(dāng)前選中的數(shù)據(jù)批次。圖中為“10 0fl0”,表示10批數(shù)據(jù)全被選用。

         不同批次模擬分析中變化參數(shù)的名稱。圖中為“Rval”,這就是前面進(jìn)行RC電路參數(shù)掃描分析中的變量參數(shù)名。

         參數(shù)的變化范圍。圖中為“40 t0 400 0hms”,即為參數(shù)掃描分析中設(shè)定的Rval變化范圍。

         坐標(biāo)軸變量名。圖中為The Xaxis will be Rval和The Y axis will depend on the Measurement youuse,即顯示電路性能分析結(jié)果時(shí),X軸為變量參數(shù)Rval,Y軸取決于將要選用的電路特性值Measurement函數(shù)。

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