設(shè)置掃描類型(Sweep Type)
發(fā)布時間:2016/3/19 22:16:13 訪問次數(shù):2254
對于需要考慮其變化對電路特性影響的那些元器件參數(shù),單擊該參數(shù)所在行對應(yīng)Sweep Type的單元格,將彈出掃描類型選擇的下拉菜單,A42MX16-FPL84列出可供選擇的4種掃描類型(見圖6-84)。
①Discrete:表示在掃描分析過程中為元器件參數(shù)指定幾個確定數(shù)值;
②Linear:表示在掃描分析過程中元器件參數(shù)按線性方式均勻變化;
③LogarithmicDec:表示參數(shù)按以10為底數(shù)的對數(shù)關(guān)系變化,即按數(shù)量級關(guān)系變化;
④LogarithmicOct:表示參數(shù)按以2為底數(shù)的對數(shù)芙系變化,即按成倍關(guān)系變化。
圖中顯示的是單擊電阻R3所在行對應(yīng)Sweep Type的單元格并選擇Discrete的情況。 提示: “選擇掃描類型”這一步也可以與下面關(guān)于“設(shè)置參數(shù)掃描取值”介紹同時進(jìn)行(參見圖6-85)。
對于需要考慮其變化對電路特性影響的那些元器件參數(shù),單擊該參數(shù)所在行對應(yīng)Sweep Type的單元格,將彈出掃描類型選擇的下拉菜單,A42MX16-FPL84列出可供選擇的4種掃描類型(見圖6-84)。
①Discrete:表示在掃描分析過程中為元器件參數(shù)指定幾個確定數(shù)值;
②Linear:表示在掃描分析過程中元器件參數(shù)按線性方式均勻變化;
③LogarithmicDec:表示參數(shù)按以10為底數(shù)的對數(shù)關(guān)系變化,即按數(shù)量級關(guān)系變化;
④LogarithmicOct:表示參數(shù)按以2為底數(shù)的對數(shù)芙系變化,即按成倍關(guān)系變化。
圖中顯示的是單擊電阻R3所在行對應(yīng)Sweep Type的單元格并選擇Discrete的情況。 提示: “選擇掃描類型”這一步也可以與下面關(guān)于“設(shè)置參數(shù)掃描取值”介紹同時進(jìn)行(參見圖6-85)。
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