半導體器件的壽命長、穩(wěn)定可靠,所以其失效特性有特殊的地方。 DAC7612U可以看出半導體器件的早期失效期和普通元器件相同,失效率隨時間增加而迅速下降。其失效原因通常由于原材料的缺陷和工藝因素所引起。在偶然失效期,其失效率低且有隨時間遞減的趨勢,這一階段的失效率近似為常數(shù),這是半導體器件的穩(wěn)定工作的時期。半導體器件沒有耗損失效期,即沒有失效率隨時間而增大的耗損失效階段,這是其特殊性所在。類似半導體器件的失效規(guī)律的元器件還有固體鉭電解電容器。

   元器件的可靠性計算

   一般元器件的可靠性通常用經(jīng)過大量試驗統(tǒng)計得出的失效率來表征。由于元器件都工作在偶然失效期,其失效率為常數(shù),上式說明了正常工作概率(可靠度)在時間上是按指數(shù)衰減的。

   使用條件對元器件可靠性的影響

   元器件的使用條件包括工作環(huán)境條件和負荷條件。工作環(huán)境條件不同元器件的失效率變化很大,有時可相差幾百倍,一般地說,所處的條件越惡劣,其失效率越大。