無論是光電儀器還是精密機械設備，其自身精度是一項重要的技術指標。 FQPF12N60C隨著科學技術的發展，對于光電精密儀器的精度也提出了越來越高的要求。例如在半導體工業中，64KB的隨機存儲器線寬為2ym~3p.m，而256KB存儲器的線寬達到0.7ym，這就要半導體的光刻設備和測試儀器本身的精度能達到亞微米級。由此可見，精度設計是儀器設計成敗的關鍵。

   光電精密儀器的精度無論多高，總是存在著誤差。進行精度分析的目的是找出產生誤差的根源和規律，分析誤差對儀器設備精度的影響，以便合理地選擇方案、設計結構、確定參數和設置必要的補償環節，從而在保證經濟性的基礎上達到較高的精度。

   儀器精度理論主要研究影響儀器精度的各項誤差的來源及特性，研究誤差的評定和估計方法，掌握誤差的傳遞、轉化和相互作用的規律、誤差合成與分配原則，從而為精度設計提供可靠的科學依據。

   在對某物理量進行測量的過程中，所測得的數值與標一稱值（或真值）之間的差值稱為誤差，即

   真誤差值=測量值一標稱值

   (1)任何測量手段無論精度多高，總是有誤差存在。即真誤差是客觀存在的，永遠不會等于零。

   (2)多次重復測量某物理參數時，各次的測量值并不相等，這是誤差不確定性的反映。只有量儀的分辨率太低時，才會出現測量值相等的情況。

   (3)真誤差是未知的，因為通常真值是未知的。

   為了能正確地表達精度，人們在長期實踐中，確定了以下基本概念。

   (1)理論真值（即名義值）。它是設計時給定的或是用數學、物理公式計算的給定值，如零件的名義尺寸等。