光學(xué)圖形發(fā)生器的激光干涉系統(tǒng)
發(fā)布時(shí)間:2017/2/5 21:24:09 訪問(wèn)次數(shù):844
阿貝原則.在設(shè)計(jì)儀器的干涉定位系統(tǒng)時(shí),應(yīng)遵守阿貝原則。具體地說(shuō),阿貝ICR18650-30A原則在該干涉定位系統(tǒng)中,應(yīng)包含兩方面的內(nèi)容:一是測(cè)量點(diǎn)應(yīng)與被測(cè)點(diǎn)共線,即被測(cè)點(diǎn)在激光干涉儀測(cè)量點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)方向延長(zhǎng)線上,但由于結(jié)構(gòu)的限制往往不能做到,此時(shí)被測(cè)點(diǎn)應(yīng)盡量接近其延長(zhǎng)線,以減小阿貝誤差;二是參考點(diǎn)應(yīng)選擇在與被測(cè)點(diǎn)有關(guān)的點(diǎn)上,以保證測(cè)量精度。例如,圖4 - 31所示美國(guó)GCA公司生產(chǎn)的光學(xué)圖形發(fā)生器,其參考光束的反射鏡安放在照相物鏡上,可以避免由于變形引起物鏡位置的變化而造成的誤差。
兩光束在相干點(diǎn)的光強(qiáng)應(yīng)盡量相等,以獲得最清晰的對(duì)比度和最好的干涉圖形。
盡可能減少雜散光。減少光學(xué)零件的數(shù)目、鍍膜、正確選擇光學(xué)元件、在光路中加光闌以及采用偏振方法等,均可減少雜散光,可根據(jù)具體的儀器采取具體措施。
激光干涉定位測(cè)量系統(tǒng)實(shí)例
例4 -1 自動(dòng)分步重復(fù)照相機(jī)中的激光干涉定位系統(tǒng)。
是清華大掌研制的自動(dòng)分步重復(fù)照相機(jī)中的激光干涉定位測(cè)量系統(tǒng)的光路圖。本系統(tǒng)采用了半內(nèi)腔式激光器,輸出功率形>0. 5mW,激光束經(jīng)反射鏡1、3入射到析光鏡9,光束被分成兩束。一束透過(guò)析光鏡9進(jìn)入梯形棱鏡10到固定立體直角錐棱鏡2;另一束由析光鏡反射并通過(guò)直角錐棱鏡5和8把光束提高,經(jīng)五角棱鏡6轉(zhuǎn)900,進(jìn)入測(cè)量立體直角錐棱鏡7。
阿貝原則.在設(shè)計(jì)儀器的干涉定位系統(tǒng)時(shí),應(yīng)遵守阿貝原則。具體地說(shuō),阿貝ICR18650-30A原則在該干涉定位系統(tǒng)中,應(yīng)包含兩方面的內(nèi)容:一是測(cè)量點(diǎn)應(yīng)與被測(cè)點(diǎn)共線,即被測(cè)點(diǎn)在激光干涉儀測(cè)量點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)方向延長(zhǎng)線上,但由于結(jié)構(gòu)的限制往往不能做到,此時(shí)被測(cè)點(diǎn)應(yīng)盡量接近其延長(zhǎng)線,以減小阿貝誤差;二是參考點(diǎn)應(yīng)選擇在與被測(cè)點(diǎn)有關(guān)的點(diǎn)上,以保證測(cè)量精度。例如,圖4 - 31所示美國(guó)GCA公司生產(chǎn)的光學(xué)圖形發(fā)生器,其參考光束的反射鏡安放在照相物鏡上,可以避免由于變形引起物鏡位置的變化而造成的誤差。
兩光束在相干點(diǎn)的光強(qiáng)應(yīng)盡量相等,以獲得最清晰的對(duì)比度和最好的干涉圖形。
盡可能減少雜散光。減少光學(xué)零件的數(shù)目、鍍膜、正確選擇光學(xué)元件、在光路中加光闌以及采用偏振方法等,均可減少雜散光,可根據(jù)具體的儀器采取具體措施。
激光干涉定位測(cè)量系統(tǒng)實(shí)例
例4 -1 自動(dòng)分步重復(fù)照相機(jī)中的激光干涉定位系統(tǒng)。
是清華大掌研制的自動(dòng)分步重復(fù)照相機(jī)中的激光干涉定位測(cè)量系統(tǒng)的光路圖。本系統(tǒng)采用了半內(nèi)腔式激光器,輸出功率形>0. 5mW,激光束經(jīng)反射鏡1、3入射到析光鏡9,光束被分成兩束。一束透過(guò)析光鏡9進(jìn)入梯形棱鏡10到固定立體直角錐棱鏡2;另一束由析光鏡反射并通過(guò)直角錐棱鏡5和8把光束提高,經(jīng)五角棱鏡6轉(zhuǎn)900,進(jìn)入測(cè)量立體直角錐棱鏡7。
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