若判斷測(cè)試失敗是RFI通過(guò)外殼對(duì)EUT內(nèi)部的直接輻射引起的,可按照以下步驟處理。

   對(duì)非金屬外殼,M24256-BRMN6TP由于外殼對(duì)干擾沒(méi)有任何屏蔽作用,干擾直接進(jìn)人內(nèi)部電路,此時(shí)應(yīng)在非金屬外殼內(nèi)部增加金屬屏蔽層,或?qū)UT內(nèi)部敏感電路局部屏蔽來(lái)解決。

   對(duì)金屬外殼,要查找外殼上是否存在大的孔、洞、縫隙。首先檢查外殼的各個(gè)部件之間是否連接良好,是否存在外殼各部分之間的接觸面為了防銹而噴涂了非電導(dǎo)保護(hù)漆,若存在該情況,應(yīng)去掉保護(hù)漆,讓各部件在接觸面實(shí)現(xiàn)良好電氣連接(為防止該連接面生銹,可在相應(yīng)位置噴涂導(dǎo)電良好的保護(hù)漆)。

   必要時(shí)應(yīng)在各接觸面加上導(dǎo)電襯墊,防止因緊固螺釘引起接觸面形變形成接觸不良和接口縫隙。若問(wèn)題依然存在,再在EUT外殼上大的孔、洞、縫隙上粘貼導(dǎo)電金屬箔,一邊粘貼一邊檢測(cè),若粘貼到某個(gè)位置后敏感問(wèn)題消失了,則處理對(duì)應(yīng)孔洞。然后,一個(gè)一個(gè)去掉孔洞的金屬箔,同時(shí)進(jìn)行檢測(cè),若敏感問(wèn)題重新出現(xiàn),再處理對(duì)應(yīng)孔洞。若每個(gè)孔洞的問(wèn)題均得以解決,則該敏感點(diǎn)的問(wèn)題就解決了。