探測(cè)器的性能參數(shù)有響應(yīng)率、噪聲等效功率、探測(cè)率、比探測(cè)率、光譜響應(yīng)特性、響應(yīng)EZJS1VC392時(shí)間、響應(yīng)頻率、噪聲等。其中最為重要的是比探測(cè)率和噪聲。

   紅外探測(cè)器的噪聲

  紅外系統(tǒng)的探測(cè)性能受到其噪聲的限制,紅外焦平面探測(cè)器陣列的噪聲包括瞬態(tài)噪聲和空間噪聲。瞬態(tài)噪聲包括光子噪聲、暗電流噪聲等器件本身的噪聲,以及讀出電路的噪聲等;空間噪聲是由于紅外焦平面陣列各個(gè)像元的響應(yīng)特性不一致造成的。這里所討論的噪聲主要是指探測(cè)器和電路元件產(chǎn)生的噪聲。

   探測(cè)器的總噪聲包括探測(cè)器內(nèi)部固有噪聲和背景光子噪聲。到達(dá)探測(cè)器表面的背景光子通量的隨機(jī)起伏最終表現(xiàn)為探測(cè)器輸出電壓值或電流值的隨機(jī)變化,稱為光子噪聲。

   背景光子噪聲決定了紅外光子探測(cè)器性能的極限。

   探測(cè)器內(nèi)部固有的噪聲有約翰遜(Johnson)噪聲、1〃噪聲、產(chǎn)生-復(fù)合(G-R)噪聲、散彈(Shot)噪聲等類型。這些噪聲的產(chǎn)生機(jī)理、頻譜各有不同,在不同頻段,對(duì)探測(cè)器性能起主要影響作用的噪聲也不一樣。