電容器的失效機(jī)理與分析 HZICSILTHO64370G

   1．電容器的主要失效模式

   對(duì)于不同類型的電容器，其失效模式是不同的。電容器常見的失效模式主要有擊穿、開路、電參數(shù)退化、電解液泄漏及機(jī)械損壞等。導(dǎo)致這些失放模式的原因主要有以下幾種。

   (1)擊穿

   1)介質(zhì)中存在疵點(diǎn)、缺陷、雜質(zhì)或?qū)щ娏Ｗ印?/span>

   2)介質(zhì)材料的老化。

   3)金屬離子遷移形成導(dǎo)電溝道或邊緣飛弧放電。

   4)介質(zhì)材料內(nèi)部氣隙擊穿或介質(zhì)電擊穿。

   5)介質(zhì)在制造過程中有機(jī)械損傷。

   6)介質(zhì)材料分子結(jié)構(gòu)的改變。

   (2)開路

   1)引出線與電極接觸處氧化而造成低電平開路。

   2)引出線與電極接觸不良或絕緣。

   3)電解電容器陽極引出箔腐蝕而導(dǎo)致開路。

   4)工作電解質(zhì)的干涸或凍結(jié)。

   5)在機(jī)械應(yīng)力作用下工作電解質(zhì)和電介質(zhì)之間的瞬時(shí)開路。