為什么用tanJ來表示電介質(zhì)的損耗? ICL3243EIAZ-T

   引出tanJ這個物理量來表示電介質(zhì)的損耗有以下兩個原因。

   (1)在直流電壓的作用下,電介質(zhì)的等值電路。開關(guān)在合閘的瞬間,即r=o+時,電容器被充電,充滿后電容支路就沒有電流,即∠→∞時,電容支路相當于開路,通過電介質(zhì)的總電流僅為電導電流,因而表征這種情況下的介質(zhì)損耗為P=R=tJ2/R。即在直流電場下介質(zhì)損耗P僅取決于其絕緣電阻R,而與其他因素無關(guān)。

   (2)在交流電壓作用下,除絕緣電阻引起的損耗外,還有因電源的極性周期地變化引起的電介質(zhì)周期地極化所產(chǎn)生的損耗。交流電壓作用下電介質(zhì)等值電路。

   由圖可知,通過電介質(zhì)的總電流不僅有電導電流rR,還有一個電容電流分量rcs,即根據(jù)電介質(zhì)電導率很小,因而fR分量很小的關(guān)系和∫c超前

iR90°角的關(guān)系,可作出電流三角形和功率三角形的相量圖。

   電介質(zhì)上損耗的有功功率P不僅與所加的交流電壓值LJ、電壓的角頻率ω有關(guān),而且與電介質(zhì)的等值電容C(涉及被試品的尺寸、幾何形狀)都有關(guān)。因此,對不同的被試電氣設備難以根據(jù)P值的大小來衡量其介質(zhì)損耗性能,而卻能較為恰當地反映被試品取用的介質(zhì)的損耗性能。