輻射抗擾度測試實質上是與輻射發(fā)射測試相反的一個測試過程。在PCB中,信號從源驅動端出發(fā),傳輸?shù)截撦d端,再從負載端將信號回流傳回至源端, K522H1GACD-A060形成信號電流的閉環(huán),即每個信號的傳送都包含著一個環(huán)路。當外界的電磁場穿過此環(huán)路時,就會在這個環(huán)路中產(chǎn)生感應電壓,如圖1.36所示。   

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   干擾電磁場穿過電路中的環(huán)路,產(chǎn)生感應電壓圖1。% 磁通量穿過環(huán)路產(chǎn)生感應電壓單線(單匝)回路中對通過其磁場的感應電壓可以根據(jù)式(1。15)計算。由于 式中,σ為感應電壓(Ⅴ);S為回路面積(m2);E為電場強度(Ⅴ/m);F為電場的頻率(MHz)。

    例如,在一個PCB中存在一個回路面積為⒛cm2的電路,當該電路在電場強度為30Ⅴ/m的電磁場中進行輻射抗擾度測試時,在150MHz頻點上,該回路中產(chǎn)生的感應電壓σ1可以通過式(1.18)計算:

    I/l=sEF/48=0.0020×30×150/48≈200 (mⅤ)

    這就是輻射抗擾度測試時,產(chǎn)品中的電路受干擾的原因之一。但是從以上計算結果可以發(fā)現(xiàn)這個干擾電床并不高。實踐中也發(fā)現(xiàn)按照這種原理所產(chǎn)生的干擾現(xiàn)象并不常見⊙更常見的是另一種現(xiàn)象,即與輻射發(fā)射測試實質中單極天線或對稱偶極子天線模型所對應的相反過程。當EUT處于輻射抗擾度測試環(huán)境中時,EUT中的電纜或其他長尺寸導體都會成為接收電磁場的天線,這些電纜或長尺寸導體端口都會感應出電壓。同時,電纜或長尺寸導體上會感應出電流,感應出的電壓通常是共模電壓,這種感應出的電流通常是共模電流。例如,一個電纜長度為L的EUT置于自由空間中,自由空間的電場強度為E。,并當L≤入〃時,電纜上感應出的共模電流J: