通過(guò)一條具有規(guī)定不確定度的不間斷的比較鏈,使測(cè)量結(jié)果或測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的值能夠與規(guī)定的參考標(biāo)準(zhǔn)(通常是國(guó)家計(jì)量基準(zhǔn)或國(guó)際計(jì)量基準(zhǔn))聯(lián)系起來(lái)的特性,KA239ADTF稱(chēng)為量值溯源實(shí)現(xiàn)量值溯源的最主要的技術(shù)手段是校準(zhǔn)和檢定。

    在規(guī)定條件下,為確定測(cè)量?jī)x器(或測(cè)量系統(tǒng))所指示的量值,或?qū)嵨锪烤?或參考物質(zhì))所代表的量值,與對(duì)應(yīng)的由其測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值之間關(guān)系的一組操作,稱(chēng)為校準(zhǔn)。它包括兩個(gè)主要含義:

   (1)在規(guī)定的條件下,用參考測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)給包括實(shí)物量具(或參考物質(zhì))在內(nèi)的測(cè)量?jī)x器的特性賦值,并確定其示值誤差。

   (2)將測(cè)量?jī)x器所指示或代表的量值,按照比較鏈或標(biāo)準(zhǔn)鏈,將其溯源到測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值上。

   原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy,AFM)是掃描探針顯微鏡(Scanning ProbcMicros∞pe,SPM)的一種,它利用非常細(xì)小的探針,非常緩慢地在材料表面移動(dòng),以接觸或非接觸的方式,根據(jù)探針和材料表面的相互作用,來(lái)探知材料表面的細(xì)微結(jié)構(gòu),如原子的規(guī)則排列、表面形貌(topography)等。

   離子束切削加工后,可獲得尖端半徑更小的探針。探針的尖端大小和探針形狀直接影響AFM的平面分辨率,通常,探針越尖,圖像的平面分辨率越高。

   探針的定位與掃描需要非常高的尺寸精度,囚此掃描部件一般都使用壓電陶瓷元件,在空間的XYz方向上各使用一個(gè)元件,可以實(shí)現(xiàn)探針的精確的移動(dòng)控制。

   原子力顯微鏡主要的構(gòu)成組件有探針、探針定位與掃描裝置、作用力檢測(cè)部分、反饋控制單元等。

   探針可能經(jīng)常與樣品表面接觸,為避免針尖彎折或斷裂,探針材料需選擇較硬的金屬,鎢絲是最常用的材料。鎢絲經(jīng)過(guò)電化學(xué)腐蝕,形成尖端半徑為數(shù)十納米的探針,再經(jīng)由聚焦

   測(cè)量?jī)x器的檢定,是指查明和確認(rèn)測(cè)量?jī)x器是否符合法定要求的程序,它包括檢查、加標(biāo)記和(或)出具檢定證書(shū)。

   檢定具有法制性,其對(duì)象是法制管理范圍內(nèi)的測(cè)量?jī)x器。根據(jù)檢定的必要程度和我國(guó)對(duì)其依法管理的形式,可將檢定分為強(qiáng)制檢定和非強(qiáng)制檢定兩類(lèi)。強(qiáng)制檢定是指由政府計(jì)量行政主管部門(mén)所屬的法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)或授權(quán)的計(jì)量檢定機(jī)構(gòu),對(duì)某些測(cè)量?jī)x器實(shí)行的一種定點(diǎn)定期的檢定。