各種應(yīng)力水平下,對試驗(yàn)時(shí)間長短的要求如下:

   (1)保證元器件參數(shù)能產(chǎn)生足夠的退化。

   (2)能區(qū)別產(chǎn)品的真實(shí)老化效應(yīng)與隨機(jī)干擾所造成的影響。隨機(jī)干擾包括試驗(yàn)誤差、試驗(yàn)應(yīng)力變化引起的誤差、儀器或記錄不準(zhǔn)(精度不夠)引起的誤差。

    最好能做到所有試驗(yàn)樣品都失效,這樣統(tǒng)計(jì)分析的精度高,但對不少產(chǎn)品,要做到全部失效將會導(dǎo)致試驗(yàn)時(shí)間很長,此時(shí)可采用定數(shù)截尾或定時(shí)截尾壽命試驗(yàn),但要求每一應(yīng)力水下有50%以上樣品失效。如果確有困難,至少要有30%以上失效。如果應(yīng)力水平下只有5只受試樣品,則至少要有3只以上失效,否則統(tǒng)計(jì)分析的精度差。

K9WBG08U1M-PCB0

   確定測試周期

   進(jìn)行加速壽命試驗(yàn)時(shí),采用自動監(jiān)測設(shè)各能得到較高的精確度,但在費(fèi)用和技術(shù)上實(shí)施往往有困難。通常應(yīng)采用定時(shí)測量,其時(shí)間間隔的長短決定于壽命分布。失效的元器件不要過分集中在某些測量周期內(nèi),否則對元器件的失效時(shí)間估計(jì)將有較大的誤差,影響統(tǒng)計(jì)分析精度。測試時(shí)間的確定與產(chǎn)品的失效規(guī)律和失效機(jī)理有關(guān),在可能出現(xiàn)失效的時(shí)間間隔內(nèi)應(yīng)測得密一些,而在不大可能出現(xiàn)失效的時(shí)間間隔內(nèi)少測幾次,盡量使每一測試周期內(nèi)都有產(chǎn)品失效,不應(yīng)使失效產(chǎn)品過于集中在少數(shù)幾個(gè)測試周期內(nèi)。