介質(zhì)損耗角正切值
發(fā)布時(shí)間:2019/7/10 21:52:25 訪問(wèn)次數(shù):5045
介質(zhì)損耗角正切值
陶瓷材料的介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)是表示在某一頻率交流電壓作用下介質(zhì)損耗的參數(shù)。H5PS5162FFR-25C所謂介質(zhì)損耗即單位時(shí)間內(nèi)消耗的電能。
由陶瓷材料制成的元器件工作時(shí),交變電壓加在陶瓷介質(zhì)上,并通過(guò)交變電流,這時(shí)陶瓷介質(zhì)連同與其相聯(lián)系的金屬部分,可以看成有損耗的電容器,并可用一個(gè)理想電容器和一個(gè)純電阻器并聯(lián)或串聯(lián)的電路來(lái)等效。介質(zhì)損耗角可以描述為有損耗電容器電流和電壓之間相位差與理想電容器電流和電壓之間相位差比較相差的角度。測(cè)試的設(shè)備包括損耗表、高頻Q表、高頻電橋及高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x等,測(cè)量回路的Q值應(yīng)大于200。測(cè)量可采用直接測(cè)量法和替代法兩種。采用直接測(cè)量法測(cè)量時(shí),須消除連接線和測(cè)試夾具等分布參數(shù)的影響;
而采用替代法時(shí),由于兩次測(cè)量中分布參數(shù)的影響己消除,故不必再對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正。測(cè)試時(shí),連好測(cè)試儀器和裝置后,加熱升溫到所需溫度后保溫10分鐘,夾具不帶試樣,此時(shí)測(cè)出初始值,同理放入試樣后測(cè)出測(cè)量值,再按照所用儀器相應(yīng)的公式和修正公式計(jì)算最終結(jié)果tanδ;谏鲜鰷y(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試時(shí),由于連接線和夾具引入的誤差很小,可以忽略。測(cè)量的總誤差取決于所選用的測(cè)量?jī)x器。
介質(zhì)損耗角正切值
陶瓷材料的介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)是表示在某一頻率交流電壓作用下介質(zhì)損耗的參數(shù)。H5PS5162FFR-25C所謂介質(zhì)損耗即單位時(shí)間內(nèi)消耗的電能。
由陶瓷材料制成的元器件工作時(shí),交變電壓加在陶瓷介質(zhì)上,并通過(guò)交變電流,這時(shí)陶瓷介質(zhì)連同與其相聯(lián)系的金屬部分,可以看成有損耗的電容器,并可用一個(gè)理想電容器和一個(gè)純電阻器并聯(lián)或串聯(lián)的電路來(lái)等效。介質(zhì)損耗角可以描述為有損耗電容器電流和電壓之間相位差與理想電容器電流和電壓之間相位差比較相差的角度。測(cè)試的設(shè)備包括損耗表、高頻Q表、高頻電橋及高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x等,測(cè)量回路的Q值應(yīng)大于200。測(cè)量可采用直接測(cè)量法和替代法兩種。采用直接測(cè)量法測(cè)量時(shí),須消除連接線和測(cè)試夾具等分布參數(shù)的影響;
而采用替代法時(shí),由于兩次測(cè)量中分布參數(shù)的影響己消除,故不必再對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正。測(cè)試時(shí),連好測(cè)試儀器和裝置后,加熱升溫到所需溫度后保溫10分鐘,夾具不帶試樣,此時(shí)測(cè)出初始值,同理放入試樣后測(cè)出測(cè)量值,再按照所用儀器相應(yīng)的公式和修正公式計(jì)算最終結(jié)果tanδ。基于上述測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試時(shí),由于連接線和夾具引入的誤差很小,可以忽略。測(cè)量的總誤差取決于所選用的測(cè)量?jī)x器。
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