衰減最快的電流稱為電容電流
發(fā)布時間:2019/7/10 21:56:09 訪問次數(shù):2990
外殼的電性能參數(shù)包括絕緣電阻、介質(zhì)耐壓、引線電阻、引線電容。H5PS5162FFR-G7C下面詳細介紹絕緣電阻、介質(zhì)耐壓、引線電容的測試經(jīng)驗。
除陶瓷外殼外,大多數(shù)外殼的絕緣體是由復(fù)合介質(zhì)構(gòu)成的,在直流電壓作用下,絕緣體會產(chǎn)生多種極化現(xiàn)象。極化開始時電流很大,隨著加壓時間的增大,電流值下降,這種現(xiàn)象稱為吸收現(xiàn)象。在吸收現(xiàn)象中,衰減最快的電流稱為電容電流,隨時間緩慢變化的電流稱為吸收電流,最后不隨時間變化的穩(wěn)定電流是由介質(zhì)的電導(dǎo)所決定的稱為電導(dǎo)電流,也稱為漏電流。所以,絕緣電阻施加測量電壓后,它的電流特性通常從瞬間最大值以某一變化速率下降到較穩(wěn)定的較小值,絕緣電阻也從小緩慢增大,最后趨于穩(wěn)定。在GJB548B-2005方法中通常要求在規(guī)定的時間后進行測量,加壓時間通常規(guī)定為1分鐘。在外電場正負極的作用下,絕緣體中的帶電粒子會向某一方向移動形成有規(guī)律的運動,從而產(chǎn)生電流,電流的大小決定于單位時間內(nèi)帶電粒子到達電極的數(shù)目。增加電壓,流向電極的帶電粒子數(shù)將增加,電流增大,因而電流隨電壓正比增加,服從歐姆定律。當電壓加到一定值時,單位時間所能游離的帶電粒子都趨向電極使電流飽和。因此,測量電壓大小對絕緣電阻的測試有一定的影響,所以GJB548B-200s中規(guī)定了6個等級的測試電壓。一般隨著測試電壓加大,絕緣電阻阻值也會降低,測試電壓越高,測試的準確度越高,測試值越接近真實值,但也須針對不同的絕緣材料或使用場所采用不同的測試電壓。
當外殼存在缺陷時,在施加試驗電壓后,必然產(chǎn)生擊穿放電或損壞。外殼的介質(zhì)耐壓特性受很多因素的影響,如環(huán)境溫度、濕度及氣壓對試驗結(jié)果有一些影響,很多材料的介電特性和溫度有關(guān),一般濕度越高,氣壓越低就越容易發(fā)生擊穿現(xiàn)象,所以標準中一般都在溫度為15℃~35℃,濕度為⒛%~sO%,氣壓為86kPa~106kPa下進行測試。試驗電壓頻率、波形、加壓速度及持續(xù)時間對介質(zhì)耐壓試驗也影響較大,在CJJB3ωB-20⒆一般都特別要求有關(guān)標準需規(guī)定施加電壓為直流還是交流,施加持續(xù)時間一般為6佻,但是如果材料特殊、施加的電壓過大或過小都可以特別規(guī)定施加持續(xù)時間。如果施加電壓過大,可減小時間持續(xù)時間。當測量外殼的引線電容時,由于外殼引線一般都較短,不能將其引線直接接到儀器測試端。所以,一般都需要從儀器測試端引出兩根測試線測試外殼引線電容。測試時,測試線應(yīng)盡量短,一般為2.5~5cm,如果引線過長會使測試結(jié)果不準確。
外殼的電性能參數(shù)包括絕緣電阻、介質(zhì)耐壓、引線電阻、引線電容。H5PS5162FFR-G7C下面詳細介紹絕緣電阻、介質(zhì)耐壓、引線電容的測試經(jīng)驗。
除陶瓷外殼外,大多數(shù)外殼的絕緣體是由復(fù)合介質(zhì)構(gòu)成的,在直流電壓作用下,絕緣體會產(chǎn)生多種極化現(xiàn)象。極化開始時電流很大,隨著加壓時間的增大,電流值下降,這種現(xiàn)象稱為吸收現(xiàn)象。在吸收現(xiàn)象中,衰減最快的電流稱為電容電流,隨時間緩慢變化的電流稱為吸收電流,最后不隨時間變化的穩(wěn)定電流是由介質(zhì)的電導(dǎo)所決定的稱為電導(dǎo)電流,也稱為漏電流。所以,絕緣電阻施加測量電壓后,它的電流特性通常從瞬間最大值以某一變化速率下降到較穩(wěn)定的較小值,絕緣電阻也從小緩慢增大,最后趨于穩(wěn)定。在GJB548B-2005方法中通常要求在規(guī)定的時間后進行測量,加壓時間通常規(guī)定為1分鐘。在外電場正負極的作用下,絕緣體中的帶電粒子會向某一方向移動形成有規(guī)律的運動,從而產(chǎn)生電流,電流的大小決定于單位時間內(nèi)帶電粒子到達電極的數(shù)目。增加電壓,流向電極的帶電粒子數(shù)將增加,電流增大,因而電流隨電壓正比增加,服從歐姆定律。當電壓加到一定值時,單位時間所能游離的帶電粒子都趨向電極使電流飽和。因此,測量電壓大小對絕緣電阻的測試有一定的影響,所以GJB548B-200s中規(guī)定了6個等級的測試電壓。一般隨著測試電壓加大,絕緣電阻阻值也會降低,測試電壓越高,測試的準確度越高,測試值越接近真實值,但也須針對不同的絕緣材料或使用場所采用不同的測試電壓。
當外殼存在缺陷時,在施加試驗電壓后,必然產(chǎn)生擊穿放電或損壞。外殼的介質(zhì)耐壓特性受很多因素的影響,如環(huán)境溫度、濕度及氣壓對試驗結(jié)果有一些影響,很多材料的介電特性和溫度有關(guān),一般濕度越高,氣壓越低就越容易發(fā)生擊穿現(xiàn)象,所以標準中一般都在溫度為15℃~35℃,濕度為⒛%~sO%,氣壓為86kPa~106kPa下進行測試。試驗電壓頻率、波形、加壓速度及持續(xù)時間對介質(zhì)耐壓試驗也影響較大,在CJJB3ωB-20⒆一般都特別要求有關(guān)標準需規(guī)定施加電壓為直流還是交流,施加持續(xù)時間一般為6佻,但是如果材料特殊、施加的電壓過大或過小都可以特別規(guī)定施加持續(xù)時間。如果施加電壓過大,可減小時間持續(xù)時間。當測量外殼的引線電容時,由于外殼引線一般都較短,不能將其引線直接接到儀器測試端。所以,一般都需要從儀器測試端引出兩根測試線測試外殼引線電容。測試時,測試線應(yīng)盡量短,一般為2.5~5cm,如果引線過長會使測試結(jié)果不準確。
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