關(guān)鍵引腳參數(shù)均正常但微處理器控制功能仍無(wú)法實(shí)現(xiàn)
發(fā)布時(shí)間:2023/2/28 12:17:39 訪問(wèn)次數(shù):68
典型數(shù)碼顯示器的實(shí)物外形、引腳功能及連接方式,數(shù)碼顯示器按照字符筆畫(huà)段數(shù)的不同可以分為七段數(shù)碼顯示器和八段數(shù)碼顯示器兩種。
段是指數(shù)碼顯示器字符的筆畫(huà)(a~g),八段數(shù)碼顯示器比七段數(shù)碼顯示器多一個(gè)發(fā)光二極管單元(多一個(gè)小數(shù)點(diǎn)顯示DP)。
微處理器的型號(hào)不同,引腳功能也不同,但基本都包括供電端、晶振端、復(fù)位端、FC總線信號(hào)端和控制信號(hào)輸出端,因此,判斷微處理器的性能可通過(guò)對(duì)這些引腳的電壓或信號(hào)參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)。若這些關(guān)鍵引腳參數(shù)均正常,但微處理器控制功能仍無(wú)法實(shí)現(xiàn),則多為微處理器內(nèi)部電路異常。
微處理器供電及復(fù)位電壓的檢測(cè)方法與前面集成電路供電電壓的檢測(cè)方法相同。
下面主要介紹用示波器檢測(cè)微處理器品振信號(hào)、總線信號(hào)的檢測(cè)方法,使用示波器檢測(cè)微處理器的晶振信號(hào)、I2C總線信號(hào).
根據(jù)比較結(jié)果可對(duì)集成電路的好壞做出判斷:
若實(shí)測(cè)結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值相同或十分相近,則說(shuō)明集成電路正常。
電阻法蝕測(cè)集成電路需要有標(biāo)準(zhǔn)值比較才能做出判斷,如果無(wú)法找到集成電路的手冊(cè)資料,則可以找一臺(tái)與所測(cè)機(jī)器型號(hào)相同的、正常的機(jī)器作為對(duì)照,通過(guò)實(shí)測(cè)相同部位的集成電路各引腳阻值作為比較,若所測(cè)集成電路與對(duì)照機(jī)器中集成電路引腳的對(duì)地阻值相差很大,則多為所測(cè)集成電路損壞。
若出現(xiàn)多組引腳正、反向阻值為零或無(wú)窮大時(shí),則表明集成電路內(nèi)部損壞。
http://yushuo.51dzw.com 深圳市裕碩科技有限公司
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段是指數(shù)碼顯示器字符的筆畫(huà)(a~g),八段數(shù)碼顯示器比七段數(shù)碼顯示器多一個(gè)發(fā)光二極管單元(多一個(gè)小數(shù)點(diǎn)顯示DP)。
微處理器的型號(hào)不同,引腳功能也不同,但基本都包括供電端、晶振端、復(fù)位端、FC總線信號(hào)端和控制信號(hào)輸出端,因此,判斷微處理器的性能可通過(guò)對(duì)這些引腳的電壓或信號(hào)參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)。若這些關(guān)鍵引腳參數(shù)均正常,但微處理器控制功能仍無(wú)法實(shí)現(xiàn),則多為微處理器內(nèi)部電路異常。
微處理器供電及復(fù)位電壓的檢測(cè)方法與前面集成電路供電電壓的檢測(cè)方法相同。
下面主要介紹用示波器檢測(cè)微處理器品振信號(hào)、總線信號(hào)的檢測(cè)方法,使用示波器檢測(cè)微處理器的晶振信號(hào)、I2C總線信號(hào).
根據(jù)比較結(jié)果可對(duì)集成電路的好壞做出判斷:
若實(shí)測(cè)結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值相同或十分相近,則說(shuō)明集成電路正常。
電阻法蝕測(cè)集成電路需要有標(biāo)準(zhǔn)值比較才能做出判斷,如果無(wú)法找到集成電路的手冊(cè)資料,則可以找一臺(tái)與所測(cè)機(jī)器型號(hào)相同的、正常的機(jī)器作為對(duì)照,通過(guò)實(shí)測(cè)相同部位的集成電路各引腳阻值作為比較,若所測(cè)集成電路與對(duì)照機(jī)器中集成電路引腳的對(duì)地阻值相差很大,則多為所測(cè)集成電路損壞。
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