一般電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)不考慮emc問(wèn)題，就會(huì)導(dǎo)致emc測(cè)試失敗，以致不能通過(guò)相關(guān)法規(guī)的認(rèn)證，而不能出廠銷售。即使這種產(chǎn)品應(yīng)用到實(shí)際工作環(huán)境中，也會(huì)出現(xiàn)一些實(shí)際問(wèn)題。因此，在實(shí)際應(yīng)用中，需要不斷地研究出實(shí)用的方法來(lái)消除電磁干擾和騷擾。例如，工程師們根據(jù)需求設(shè)計(jì)出了效果良好的濾波電路，置于產(chǎn)晶i／o接口的前級(jí)，可使大多數(shù)因傳導(dǎo)而進(jìn)入系統(tǒng)的干擾噪聲消除在電路系統(tǒng)的入口處；設(shè)計(jì)出了隔離電路（如變壓器隔離和光電隔離等）解決通過(guò)電源線、信號(hào)線和地線進(jìn)人電路的傳導(dǎo)干擾，同時(shí)阻止因公共阻抗、長(zhǎng)線傳輸而引起的干擾；設(shè)計(jì)出了能量吸收回路，從而減少電路、器件吸收的噪聲能量；或通過(guò)選擇元器件和合理安排電路系統(tǒng)，使干擾的影響減小。

　　在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)中，為獲得良好的emc性能和成本比，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行emc設(shè)計(jì)是重要的；電子產(chǎn)品的emc性能是設(shè)計(jì)賦予的。測(cè)試僅僅是將電子產(chǎn)品固有的emc性能用某種定量的方法表征出來(lái)。對(duì)于emc設(shè)計(jì)來(lái)講：

　　首先，應(yīng)在研發(fā)前期考慮emc設(shè)計(jì)。如果產(chǎn)品設(shè)計(jì)前期不考慮emc問(wèn)題，僅寄希望于測(cè)試階段解決（表現(xiàn)為通過(guò)整改來(lái)解決設(shè)計(jì)成型產(chǎn)品的emc問(wèn)題，這樣大量的人力和物力都投入在后期的測(cè)試／驗(yàn)證、整改階段）。那么，即使產(chǎn)品整改成功，大多情況下還是會(huì)由于整改涉及電路原理、pcb設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)模具的變更，導(dǎo)致研發(fā)費(fèi)用大大增加，周期大大延長(zhǎng)。只有在前期產(chǎn)品設(shè)計(jì)過(guò)程中考慮與預(yù)測(cè)emc問(wèn)題，把emc變成一種可控的設(shè)計(jì)技術(shù)，并行和同步于產(chǎn)品功能設(shè)計(jì)的過(guò)程，才能一次性地把產(chǎn)品設(shè)計(jì)好。

　　其次，通過(guò)設(shè)計(jì)提高電子產(chǎn)品的emc性能，絕對(duì)不是企業(yè)內(nèi)emc專家一個(gè)人所賦予的，因?yàn)閑mc絕對(duì)不可能脫離產(chǎn)品硬件、結(jié)構(gòu)等實(shí)物而存在。因此，要使設(shè)計(jì)的電子產(chǎn)品一次取得良好的emc j眭能，就需要提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)工程師的emc經(jīng)驗(yàn)與意識(shí)問(wèn)題。如硬件工程師，除了原先必須掌握的電路設(shè)計(jì)知識(shí)外，還應(yīng)該掌握emi和ems抗干擾設(shè)計(jì)的基本知識(shí)；pcb設(shè)計(jì)工程師需要掌握相應(yīng)的器件布局、層疊設(shè)計(jì)、高速布線方面的emc設(shè)計(jì)知識(shí)；結(jié)構(gòu)工程師也需要了解產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的屏蔽等方面的設(shè)計(jì)知識(shí)。因?yàn)檫@些共同參與產(chǎn)品設(shè)計(jì)的工程師，要去實(shí)現(xiàn)fmc專家在產(chǎn)品設(shè)計(jì)過(guò)程中所提出的意見，就要理解、領(lǐng)會(huì)emc專家所提出的建議的奧秘，并與各自領(lǐng)域的設(shè)計(jì)特點(diǎn)相結(jié)合，將所有emc問(wèn)題的萌芽消滅在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段。只有所有參與產(chǎn)品設(shè)計(jì)的開發(fā)人員共同提高emc素質(zhì)，才能設(shè)計(jì)出具有高性能emc的電子產(chǎn)品。

　　再次，企業(yè)要自己建立一套規(guī)范的emc設(shè)計(jì)體系和設(shè)計(jì)分析方法，即在研發(fā)流程中融入emc設(shè)計(jì)分析及風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估的過(guò)程，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)的各個(gè)階段進(jìn)行emc的評(píng)估和分析控制，把可能出現(xiàn)的emc問(wèn)題在研發(fā)前期進(jìn)行考慮，并預(yù)測(cè)fmc測(cè)試的失敗風(fēng)險(xiǎn)。針對(duì)可能出現(xiàn)的emc問(wèn)題進(jìn)行前期充分考慮，并找到解決方案，從而確保產(chǎn)品設(shè)計(jì)結(jié)束后能夠一次性通過(guò)測(cè)試與認(rèn)證。當(dāng)然，這對(duì)于企業(yè)來(lái)講，也將減少不必要的人力及研發(fā)成本，縮短產(chǎn)品上市周期9本書所描述的emc設(shè)計(jì)體系和設(shè)計(jì)分析方法是一種很好的參考方法。

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