電子按測量手段分類
發(fā)布時(shí)間:2012/1/30 18:53:19 訪問次數(shù):1487
按測量段分類,有直接測量法、間接測量法、組合測量法和調(diào)零測試法四種。
(1)直接測量法AAT3215IGV-2.85-T1
這是一種對被測對象直接進(jìn)行量測并獲得其數(shù)據(jù)的方法。例如,對各點(diǎn)電壓量的測量就是直接測量。
(2)間接測量法
不對被測量進(jìn)行直接測量,而是對一個(gè)或幾個(gè)與被測量值有確切函數(shù)關(guān)系的物理量進(jìn)行測量,然后通過對函數(shù)關(guān)系的計(jì)算或推測,得出被測量,這種測量方法稱為間接測量法。
例1:在如圖1.1.1(a)所示的放大電路中,為了測得靜態(tài)電流I。,可以測出R。兩端的電壓u。。然后通過歐姆定律,求出I。(J!謏。)昀數(shù)值。
例2:如圖1.1.1(b)所示,求輸入電阻R,的方法也是一樣,可以先測出R。兩端的電壓u,-“.,然后換算成輸入電流i.一(M。- ul)/R。,再通過計(jì)算求得R.(R.-u,/i.)。
(3)組合測量法
這是一種將直接測量法和間接測量法兼用的測量方法。
(4)調(diào)零測試法
調(diào)零測試法的基本過程是:將一個(gè)校好的基準(zhǔn)源與未知的被測量進(jìn)行比較,并調(diào)節(jié)其中一個(gè),使兩個(gè)量值之差達(dá)到零值。這樣,從基準(zhǔn)源的讀數(shù)便可以得知被測量的值。
按測量段分類,有直接測量法、間接測量法、組合測量法和調(diào)零測試法四種。
(1)直接測量法AAT3215IGV-2.85-T1
這是一種對被測對象直接進(jìn)行量測并獲得其數(shù)據(jù)的方法。例如,對各點(diǎn)電壓量的測量就是直接測量。
(2)間接測量法
不對被測量進(jìn)行直接測量,而是對一個(gè)或幾個(gè)與被測量值有確切函數(shù)關(guān)系的物理量進(jìn)行測量,然后通過對函數(shù)關(guān)系的計(jì)算或推測,得出被測量,這種測量方法稱為間接測量法。
例1:在如圖1.1.1(a)所示的放大電路中,為了測得靜態(tài)電流I。,可以測出R。兩端的電壓u。。然后通過歐姆定律,求出I。(J!謏。)昀數(shù)值。
例2:如圖1.1.1(b)所示,求輸入電阻R,的方法也是一樣,可以先測出R。兩端的電壓u,-“.,然后換算成輸入電流i.一(M。- ul)/R。,再通過計(jì)算求得R.(R.-u,/i.)。
(3)組合測量法
這是一種將直接測量法和間接測量法兼用的測量方法。
(4)調(diào)零測試法
調(diào)零測試法的基本過程是:將一個(gè)校好的基準(zhǔn)源與未知的被測量進(jìn)行比較,并調(diào)節(jié)其中一個(gè),使兩個(gè)量值之差達(dá)到零值。這樣,從基準(zhǔn)源的讀數(shù)便可以得知被測量的值。
上一篇:電子測量技術(shù)
上一篇:常用電量的測量
熱門點(diǎn)擊
推薦技術(shù)資料
- 羅盤誤差及補(bǔ)償
- 造成羅盤誤差的主要因素有傳感器誤差、其他磁材料干擾等。... [詳細(xì)]
- 全新高端射頻儀器
- 集成32位RISC-V處理器&
- 第三代半導(dǎo)體和圖像傳感器 參數(shù)封裝應(yīng)用
- 汽車半導(dǎo)體
- 人形機(jī)器人技術(shù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及發(fā)展分
- 紫光芯片云3.0整體解決方案
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究