混合集成電路的主要失效模式
發(fā)布時(shí)間:2012/4/25 19:18:18 訪問(wèn)次數(shù):853
混合集成電路的CY62256VNLL-70SNXIT失效模式可以分為以下幾種：
①有源器件。
②引線鍵合。
③組裝。
④基片。
⑤外殼及封裝。
⑥沾污及多余物。
圖3.4是美國(guó)羅姆航空發(fā)展中心收集的混合電路失效模式的分布數(shù)據(jù)，表明有源器件、引線鍵合和沾污是造成失效的主要原因。圖3.5是某一混合集成電路廠家的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)（僅從設(shè)計(jì)、材料、管理、使用四方面給出了的失效統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)），可供對(duì)比分析。
混合集成電路的CY62256VNLL-70SNXIT失效模式可以分為以下幾種：
①有源器件。
②引線鍵合。
③組裝。
④基片。
⑤外殼及封裝。
⑥沾污及多余物。
圖3.4是美國(guó)羅姆航空發(fā)展中心收集的混合電路失效模式的分布數(shù)據(jù)，表明有源器件、引線鍵合和沾污是造成失效的主要原因。圖3.5是某一混合集成電路廠家的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)（僅從設(shè)計(jì)、材料、管理、使用四方面給出了的失效統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)），可供對(duì)比分析。
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