繞組的絕緣失效，可能是匝間絕緣、槽絕緣、相間AT3216-B2R7HAAT/LF絕緣中一種失效，也可能是三種失效的組合。統(tǒng)計(jì)表明，繞組的絕緣失效中，以相間絕緣擊穿和槽絕緣擊穿最為常見，匝間短路也占有一定的比例。
    繞組電氣失效主要是絕緣系統(tǒng)失效。絕緣系統(tǒng)的壽命分布一般可以用威布爾分布近似描述。溫度、濕度、尖峰電壓（特別是PWM控制的電機(jī)）、電磁力是導(dǎo)致繞組絕緣失效的主要原因。而設(shè)計(jì)中繞組線徑、絕緣等級(jí)選擇不當(dāng)，加工過程中的繞組或引出線損傷，引線焊接材料不良等因素都將引起絕緣失效。
    高溫將加快絕緣材料的物理變化的化學(xué)反應(yīng)速度，促迸絕緣老化。1930年Montsinger就提出了絕緣壽命與溫度的10℃準(zhǔn)則，即溫度每上升10℃絕緣壽命就下降一半。后來的研究工作又對(duì)此作出修正，即A級(jí)絕緣溫度每升高8℃，B級(jí)絕緣溫度每升高10℃，H級(jí)絕緣溫度每升高18℃，電機(jī)絕緣壽命將下降一半。上海電器科學(xué)研究所和上海電器技術(shù)研究所對(duì)中小型電機(jī)的絕緣可靠性開展了研究，證明環(huán)境溫度和濕度是影響電機(jī)可靠性的重要因素：高溫會(huì)加速絕緣老化、縮短絕緣壽命，使材料變形、絕緣電阻下降；濕度的增加會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的表面腐蝕、絕緣擊穿，電氣強(qiáng)度平均值僅為原來的114～1／3。美國(guó)對(duì)高濕環(huán)境下分馬力電機(jī)的絕緣系統(tǒng)進(jìn)行了大量現(xiàn)場(chǎng)統(tǒng)計(jì)分析，發(fā)現(xiàn)此類電機(jī)使用壽命比預(yù)期的要短；從現(xiàn)場(chǎng)失效分析看，在施加電壓情況下，繞組上的水使繞組提前發(fā)生開路或短路，這是電解腐蝕造成的。
    微特電機(jī)絕緣失效的一個(gè)共同特點(diǎn)，就是所有繞組均有被水或油霧浸濕的現(xiàn)象。因?yàn)殡姍C(jī)繞組封閉于機(jī)殼中，內(nèi)腔的高濕度是在某種條件下逐步形成的漸變事件，油霧則是電機(jī)的軸承潤(rùn)滑產(chǎn)生的必然現(xiàn)象。油霧中的有害成分和電機(jī)內(nèi)腔的空氣中水分子對(duì)繞組絕緣的危害是一個(gè)緩慢、漸變的過程，使得繞組的絕緣性能退化并逐漸轉(zhuǎn)化為絕緣損傷。也就是說，繞組的絕緣失效模式是一種在惡劣環(huán)境中累積損傷的模式。
    表8.3給出了在相同的老化溫度與老化時(shí)間的關(guān)系。不同絕緣等級(jí)下絕緣壽命與絕緣溫度的關(guān)系曲線，如圖8.9所示。