負反饋對放大器性能影響的測試與分析
發(fā)布時間:2012/7/8 16:04:31 訪問次數(shù):1604
任務(wù)實施
一、測試任務(wù)
(1)負反饋對放大器電壓放MT9D111大倍數(shù)的影響的測試。
(2)負反饋對放大器輸入、輸出電阻的影響的測試。
(3)負反饋對放大器失真的改善作用的測試。
(4)負反饋對放大器通頻帶的影響的測試。
二、任務(wù)要求
按測試步驟完成所有測試內(nèi)容,并撰寫測試報告。
三、測試器材
(1)測試設(shè)備:示波器、萬用表、函數(shù)信號發(fā)生器、晶體管毫伏表、直流穩(wěn)壓電源、模擬電路實驗箱(或面包板)。
(2)器件:9013、電阻若干。
四、任務(wù)實施步驟
負反饋對放大器電壓放大倍數(shù)的影響的測試
按圖2-61完成連線。
任務(wù)實施
一、測試任務(wù)
(1)負反饋對放大器電壓放MT9D111大倍數(shù)的影響的測試。
(2)負反饋對放大器輸入、輸出電阻的影響的測試。
(3)負反饋對放大器失真的改善作用的測試。
(4)負反饋對放大器通頻帶的影響的測試。
二、任務(wù)要求
按測試步驟完成所有測試內(nèi)容,并撰寫測試報告。
三、測試器材
(1)測試設(shè)備:示波器、萬用表、函數(shù)信號發(fā)生器、晶體管毫伏表、直流穩(wěn)壓電源、模擬電路實驗箱(或面包板)。
(2)器件:9013、電阻若干。
四、任務(wù)實施步驟
負反饋對放大器電壓放大倍數(shù)的影響的測試
按圖2-61完成連線。
熱門點擊
推薦技術(shù)資料
- 新品4MP圖像傳感器̴
- 高性能SoC智能傳感芯片技術(shù)設(shè)
- 分立器件&無源元件選型參數(shù)技術(shù)
- SRAM存算一體芯片發(fā)展趨勢及市場應(yīng)用
- 大功率雙向 48 V-12 V DC/D C
- 單速率(Single Rate
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究