Wave Scan也是一種用于非矢AT697-DKIT量測試的新技術(shù)，它把頻率為0.3～1MHz、幅度大約是1/3V的射頻信號加到螺線形的回路中激發(fā)磁場，這個磁場感應(yīng)器放在器件的上方。于是被測器件中產(chǎn)生交流電壓，再用測試儀內(nèi)的儀器把它測量出來�，F(xiàn)在有4種不同尺寸的磁場感應(yīng)器可用于測試不同封裝和類型的器件。
    在磁場感應(yīng)器固定裝置上裝有一塊多路解編器，在進(jìn)行一個項目的測試時確定一個感應(yīng)器激發(fā)磁場。Wave Scan能測試器件多達(dá)每塊板255個。
    在測試儀上還裝有一塊發(fā)射接收電路板，板上有射頻號發(fā)射器和接收器，它接到多路解編器電路板，在測試固定裝置中設(shè)有緩沖器和放大器，如圖15.88所示。

            
    在測試儀軟件的控制下，Wave Scan的工作過程為：多路解碼器選擇磁場感應(yīng)器準(zhǔn)備激磁；在器件的被測試引出線和器件的地線（或者Ve。）之間送進(jìn)直流偏置電流，使該引出線的保護二板管進(jìn)入導(dǎo)通狀態(tài)。發(fā)射接收電路板把射頻信號（頻率為0.3MHz或者1MHz）送到選定的磁場感應(yīng)器；磁場感應(yīng)器激發(fā)磁場，在被測試器件中感應(yīng)微小的交流電壓；發(fā)射接收電路板依次測量器件上每條引出線的交流電壓。
    如果器件中的電路是閉合的，那么測試儀就把疊加在直流偏置電壓上的交流電壓測量出來。如果在器件和測試探針之間存在開路，那么就沒有交流信號，這樣，如果電路中有斷路現(xiàn)象便可檢查出來。
    Wave Scan的特點為：
    ●能測試有散熱封裝、有接地的器件，因為Wave有很強的穿透性；
    ●能測試沒有引腳支架的器件，如BGA、PGA等；
    ●能查出器件的接地線與信號線是否接錯或開路；
    ●編程速度快；
    ●運行可靠（因力IC上磁場分布比較均勻），信噪比高(100:1)。
    但Wave Scan不能檢查出編程有錯誤的器件以及器件內(nèi)部的故障。
    上述三種非向量測試方法在實際應(yīng)用時可作為互補，即對于一個具體的ASIC器件來說，總可以采用其中一個方法測試是否合格，通常Delta Scan法可以用于首選，它具有相當(dāng)高的故障覆蓋率，并用于不同種的器件，此外附加硬件相對較少。然后再采用WaveScan進(jìn)一步對尚不明確的器件進(jìn)行測試，而對于非硅器件則可以采用Frame Scan方法進(jìn)行測試。
    總之，對于lC器件的測試，非向量測試技術(shù)有較高的缺陷診斷覆蓋率，但非向量測試技術(shù)不能測量器件內(nèi)部功能，也不能識別編程的錯誤，它與ICT結(jié)合在一起能實現(xiàn)對SMA焊接質(zhì)量的全面測試。