1)外形與特點(diǎn)
    數(shù)字lC測(cè)試儀是采用單片機(jī)技術(shù)的一8N60種便攜式儀器，外形如圖2-18所示。其功能特點(diǎn)如下（以LT - 80C通用數(shù)字lC測(cè)試儀為例介紹）：數(shù)字按鍵
     圖2-18數(shù)字IC測(cè)試儀外形

          
    (1)能夠準(zhǔn)確、迅速地測(cè)量rITL74/54、CMOS40/45系列數(shù)字集成電路的好壞，自動(dòng)識(shí)別不知名的集成電路并顯示其型號(hào)。
    (2)儀器體積小、重量輕、攜帶使用方便，外殼采用工程塑料，與一般數(shù)字萬用表大小相當(dāng)，3位大液晶數(shù)字顯示清晰，并有蜂鳴器作為操作的提示聲音。
    (3)由一個(gè)9V疊層電池供電，并設(shè)一個(gè)外接電源插孔，其靜態(tài)電流只有十幾毫安。面板上有電源開關(guān)、一個(gè)20腳測(cè)試座、四個(gè)操作按鈕，外觀簡潔美觀。
    (4)測(cè)量范圍：TTL74/54系列（包括74 -、74S -、74LS -、74ALS -、74AC -、74ACT -、74HC -、74HCT -、74F -、74FHC -，以及與上述型號(hào)相對(duì)應(yīng)的54系列產(chǎn)品）、CMOS40 -系列、CMOS45 -系列。
    2)基本操作方法
    (1)接通電源，將待測(cè)IC芯片的①腳對(duì)準(zhǔn)集成電路插座上的①腳恒定位置，再插入插座并鎖緊。
    (2)連續(xù)按動(dòng)“系列選擇”鍵，從LCD顯示屏上選出所需的系列號(hào)。
    (3)按動(dòng)“型號(hào)測(cè)試”鍵，對(duì)lC進(jìn)行測(cè)試。如果IC性能合格，儀器將顯示其型號(hào)，并鳴笛一聲；如果IC未能通過測(cè)試，儀器將鳴笛三聲，此時(shí)應(yīng)從插座上取下IC，檢查引腳有無管路、斷路及插座的接觸不良等故障。如果排除上述問題后，IC芯片仍不能通過測(cè)試，則說明此IC不合格。
    (4)當(dāng)多片同型號(hào)lC測(cè)量時(shí)，應(yīng)先按“型號(hào)”測(cè)出首片型號(hào)，再按“性能測(cè)試”鍵，測(cè)余下的IC。IC性能合格，儀器將顯示其型號(hào)；IC性能不合格肘，儀器將顯示“999”，并鳴笛三聲。