光電開(kāi)關(guān)光
發(fā)布時(shí)間:2014/11/9 17:37:35 訪問(wèn)次數(shù):823
光電開(kāi)關(guān)光電開(kāi)關(guān)是一種利用感光元件對(duì)變化的入射光加以接收,并進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換, ADS7843E同時(shí)加以某種形式的放大和控制,從而獲得最終的控制輸出“開(kāi)”、“關(guān)”信號(hào)的器件。
圖8-26所示為典型的光電開(kāi)關(guān)的結(jié)構(gòu)。圖8-26 (a)所示的是一種透射式的光電開(kāi)關(guān),它的發(fā)光元件和接收元件的光軸是重合的,當(dāng)不透明的物體位于或經(jīng)過(guò)它們之間時(shí),會(huì)阻斷光路,使接收元件接收不到來(lái)自發(fā)光元件的光.這樣就起到了檢測(cè)作用;圖8-26 (b)所示的是一種反射式的光電開(kāi)關(guān),它的發(fā)光元件和接收元件的光軸在同一平面且以某一角度相交,交點(diǎn)一般即為待測(cè)物所在處。當(dāng)有物體經(jīng)過(guò)時(shí),接收元件將接收到從物體表面反射的光,沒(méi)有物體時(shí)則接收不到。光電開(kāi)關(guān)的特點(diǎn)是小型、高速、非接觸,而且與TI'L、MOS等電路容易結(jié)合。
用光電開(kāi)關(guān)檢測(cè)物體時(shí),大部分只要求其輸出信號(hào)有“高”或“低”(“1”或“O”)之分即可。圖8-27所示是光電開(kāi)關(guān)的基本電路。圖8-27 (a)、(b)表示負(fù)載為CMOS比較器等高輸入阻抗電路時(shí)的情況,圖8-27 (c)表示用晶體管放大光電流的情況。
光電開(kāi)關(guān)廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制、自動(dòng)化包裝線及安全裝置中,作為光控制和光探測(cè)裝置。也可在自控系統(tǒng)中用做物體檢測(cè)、產(chǎn)品計(jì)數(shù)、料位檢測(cè)、尺寸控制、安全報(bào)警及計(jì)算機(jī)輸入接口等用途。
光電開(kāi)關(guān)光電開(kāi)關(guān)是一種利用感光元件對(duì)變化的入射光加以接收,并進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換, ADS7843E同時(shí)加以某種形式的放大和控制,從而獲得最終的控制輸出“開(kāi)”、“關(guān)”信號(hào)的器件。
圖8-26所示為典型的光電開(kāi)關(guān)的結(jié)構(gòu)。圖8-26 (a)所示的是一種透射式的光電開(kāi)關(guān),它的發(fā)光元件和接收元件的光軸是重合的,當(dāng)不透明的物體位于或經(jīng)過(guò)它們之間時(shí),會(huì)阻斷光路,使接收元件接收不到來(lái)自發(fā)光元件的光.這樣就起到了檢測(cè)作用;圖8-26 (b)所示的是一種反射式的光電開(kāi)關(guān),它的發(fā)光元件和接收元件的光軸在同一平面且以某一角度相交,交點(diǎn)一般即為待測(cè)物所在處。當(dāng)有物體經(jīng)過(guò)時(shí),接收元件將接收到從物體表面反射的光,沒(méi)有物體時(shí)則接收不到。光電開(kāi)關(guān)的特點(diǎn)是小型、高速、非接觸,而且與TI'L、MOS等電路容易結(jié)合。
用光電開(kāi)關(guān)檢測(cè)物體時(shí),大部分只要求其輸出信號(hào)有“高”或“低”(“1”或“O”)之分即可。圖8-27所示是光電開(kāi)關(guān)的基本電路。圖8-27 (a)、(b)表示負(fù)載為CMOS比較器等高輸入阻抗電路時(shí)的情況,圖8-27 (c)表示用晶體管放大光電流的情況。
光電開(kāi)關(guān)廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制、自動(dòng)化包裝線及安全裝置中,作為光控制和光探測(cè)裝置。也可在自控系統(tǒng)中用做物體檢測(cè)、產(chǎn)品計(jì)數(shù)、料位檢測(cè)、尺寸控制、安全報(bào)警及計(jì)算機(jī)輸入接口等用途。
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