光電檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展與新型光源
發(fā)布時(shí)間:2015/4/29 18:05:38 訪問(wèn)次數(shù):630
光電檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展與新型光源、新型光AD536ASD/883B電器件、微電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展密不可分,自從1960年世界上第一臺(tái)紅寶石激光器與氦一氖激光器問(wèn)世以來(lái),由于激光光源的單色性、方向性、相干性和穩(wěn)定性極好,人們?cè)诤芏虝r(shí)間內(nèi)就研制出各種激光干涉儀、激光測(cè)距儀、激光準(zhǔn)直儀、激光跟蹤儀和激光雷達(dá)等,大大推動(dòng)了光電測(cè)試技術(shù)的發(fā)展。
1970年貝爾實(shí)驗(yàn)室研制出第一個(gè)固體攝像器件(CCD),由于它的小巧、堅(jiān)固、低功耗、失真小、工作電壓低,重量輕、抗振性好、動(dòng)態(tài)范圍大和光譜范圍寬等特點(diǎn),使得視覺(jué)檢測(cè)進(jìn)入一個(gè)新的階段,它不僅可以完成人的視覺(jué)觸及區(qū)域的圖像測(cè)量,而且對(duì)于人眼無(wú)法涉及的紅外和紫外波段的圖像測(cè)量也變成了現(xiàn)實(shí),從而把光學(xué)測(cè)量的主觀性(靠人眼瞄準(zhǔn)與測(cè)量)發(fā)展成客觀的光電圖像測(cè)量。
光導(dǎo)纖維自從20世紀(jì)60年代問(wèn)世以來(lái),在傳遞圖像和檢測(cè)技術(shù)方面又發(fā)展出一個(gè)新的天地,光纖通信已經(jīng)風(fēng)靡全球,而光纖傳感幾乎可以測(cè)量各種物理量,尤其在一些強(qiáng)電磁干擾、危及人生命安全的場(chǎng)合可以安全地工作,而且具有高精度、高逮度、非接觸測(cè)量等特點(diǎn)?梢說(shuō)一個(gè)新的光源、一個(gè)新的光電器件的發(fā)明都大大推動(dòng)了光電檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展。
近十幾年來(lái)工程領(lǐng)域的加工精度已達(dá)到0.1斗m,甚至0. 01 ym的水平。它對(duì)測(cè)量技術(shù)提出了更高的要求,迫切需要開(kāi)拓新的測(cè)量手段,因此先后出現(xiàn)了各種納米測(cè)量顯微鏡,如隧道顯微鏡的問(wèn)世、原子顯微鏡的研制成功。為了準(zhǔn)確測(cè)出這些納米尺度測(cè)量顯微鏡的精度,還必須溯源到光的波長(zhǎng)上,因此,迫切需要研制精度達(dá)到納米和亞納米級(jí)的干涉儀來(lái)實(shí)現(xiàn)納米尺度的測(cè)量和標(biāo)定,因而,又相繼出現(xiàn)了精度可達(dá)到0. Inm的激光外差干涉儀和精度可達(dá)0.01nm的X光干涉儀。
光電檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展與新型光源、新型光AD536ASD/883B電器件、微電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展密不可分,自從1960年世界上第一臺(tái)紅寶石激光器與氦一氖激光器問(wèn)世以來(lái),由于激光光源的單色性、方向性、相干性和穩(wěn)定性極好,人們?cè)诤芏虝r(shí)間內(nèi)就研制出各種激光干涉儀、激光測(cè)距儀、激光準(zhǔn)直儀、激光跟蹤儀和激光雷達(dá)等,大大推動(dòng)了光電測(cè)試技術(shù)的發(fā)展。
1970年貝爾實(shí)驗(yàn)室研制出第一個(gè)固體攝像器件(CCD),由于它的小巧、堅(jiān)固、低功耗、失真小、工作電壓低,重量輕、抗振性好、動(dòng)態(tài)范圍大和光譜范圍寬等特點(diǎn),使得視覺(jué)檢測(cè)進(jìn)入一個(gè)新的階段,它不僅可以完成人的視覺(jué)觸及區(qū)域的圖像測(cè)量,而且對(duì)于人眼無(wú)法涉及的紅外和紫外波段的圖像測(cè)量也變成了現(xiàn)實(shí),從而把光學(xué)測(cè)量的主觀性(靠人眼瞄準(zhǔn)與測(cè)量)發(fā)展成客觀的光電圖像測(cè)量。
光導(dǎo)纖維自從20世紀(jì)60年代問(wèn)世以來(lái),在傳遞圖像和檢測(cè)技術(shù)方面又發(fā)展出一個(gè)新的天地,光纖通信已經(jīng)風(fēng)靡全球,而光纖傳感幾乎可以測(cè)量各種物理量,尤其在一些強(qiáng)電磁干擾、危及人生命安全的場(chǎng)合可以安全地工作,而且具有高精度、高逮度、非接觸測(cè)量等特點(diǎn)?梢說(shuō)一個(gè)新的光源、一個(gè)新的光電器件的發(fā)明都大大推動(dòng)了光電檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展。
近十幾年來(lái)工程領(lǐng)域的加工精度已達(dá)到0.1斗m,甚至0. 01 ym的水平。它對(duì)測(cè)量技術(shù)提出了更高的要求,迫切需要開(kāi)拓新的測(cè)量手段,因此先后出現(xiàn)了各種納米測(cè)量顯微鏡,如隧道顯微鏡的問(wèn)世、原子顯微鏡的研制成功。為了準(zhǔn)確測(cè)出這些納米尺度測(cè)量顯微鏡的精度,還必須溯源到光的波長(zhǎng)上,因此,迫切需要研制精度達(dá)到納米和亞納米級(jí)的干涉儀來(lái)實(shí)現(xiàn)納米尺度的測(cè)量和標(biāo)定,因而,又相繼出現(xiàn)了精度可達(dá)到0. Inm的激光外差干涉儀和精度可達(dá)0.01nm的X光干涉儀。
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