實(shí)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)法是對(duì)所要設(shè)計(jì)的產(chǎn)品進(jìn)行模型實(shí)驗(yàn)，或?qū)σ蜒兄瞥龅漠a(chǎn)品進(jìn)行精度測(cè)試， KIA78L18-BP-A7即對(duì)其精度特性進(jìn)行多次測(cè)量，并對(duì)所得測(cè)量數(shù)據(jù)運(yùn)用概率論及數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行分析與處理，以獲得關(guān)于產(chǎn)品誒差的詳盡資料（大量數(shù)據(jù)和誤差曲線），從中找出規(guī)律性的東西。例如：

   (1)產(chǎn)品總誤差的大小及變動(dòng)范圍。

   (2)系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差的大小及其大致分布規(guī)律。

   (3)影響總誤差的一些主要因素（可依次變動(dòng)某一因素或同時(shí)變動(dòng)某些因素，測(cè)量總誤差的變化情況）。

   由實(shí)驗(yàn)測(cè)試所得到的實(shí)際產(chǎn)品精度特性就可判斷該產(chǎn)品的總精度是否滿足規(guī)定要求。    、

   上述兩種基本方法各有優(yōu)缺點(diǎn)。理論分析法的優(yōu)點(diǎn)是能計(jì)算出各原始誤差所產(chǎn)生各個(gè)部分誤差的數(shù)值及其在總誤差中所占的比例，因而便于進(jìn)行誤差的調(diào)整、平衡和再分配。理論分析法的缺點(diǎn)是計(jì)算得到的總誤差往往與實(shí)際不符，原因是誤差合成時(shí)無法充分考慮到誤差互相抵償?shù)囊幻妫瑫r(shí)誤差合成的計(jì)算公式本身就是近似的；此外，對(duì)誤差來源的分析可能會(huì)有遺漏，對(duì)某些原始誤差的數(shù)值只能給出估計(jì)值等。

   實(shí)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)法的優(yōu)缺點(diǎn)恰與理論分析法相反。因此，對(duì)于高精度的復(fù)雜產(chǎn)品，特別是光學(xué)精密測(cè)量?jī)x器，經(jīng)常采用兩種方法相結(jié)合進(jìn)行總體精度分析才能夠取得滿意的結(jié)果。在一般情況下，理論分析法多用于新產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)的總體精度分析，而實(shí)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)法則多用于研制產(chǎn)品的精度檢定和原有產(chǎn)品的精度復(fù)測(cè)。