通過(guò)利用黑體輻射爐、斬波器、 RA8875L3N計(jì)算機(jī)軟件系統(tǒng)以及設(shè)計(jì)的電路測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試并計(jì)算得到如下圖的試驗(yàn)結(jié)果。對(duì)于熱電探測(cè)器的兩個(gè)重要的試驗(yàn)測(cè)試關(guān)系被闡述如下：在實(shí)際使用過(guò)程中，對(duì)于輻射恒定的功率能量，熱探測(cè)器具有多大的電壓輸出信號(hào)，以電壓形式表示，它不管噪聲的大小，只反單位輻射功率入射到探測(cè)器上產(chǎn)生的信號(hào)大小，隨著光源頻率的改變，其響應(yīng)信號(hào)輸出是不一樣的，其頻率與熱響應(yīng)之間的關(guān)系的測(cè)試結(jié)果描述如圖3-36所示；而熱探測(cè)率是用來(lái)度量探測(cè)器的探測(cè)能力的，反應(yīng)對(duì)外界變化敏感的能力，它需要考慮噪聲電壓、探測(cè)器的敏感元面積以及測(cè)量電路的帶寬等綜合因素，隨著頻率的改變，其熱探測(cè)率的關(guān)系描述如圖3 -36所示。從圖中可以看出，在頻率為1~10Hz范圍內(nèi)具有較大的熱探測(cè)率值，這與本章最開(kāi)始的理論計(jì)算是一致的。

   一般認(rèn)為只要探測(cè)率足夠高，探測(cè)器輸出有足夠的信噪比，信號(hào)較弱是可以用電路放大的方法彌補(bǔ)的。實(shí)際上當(dāng)響應(yīng)率過(guò)低，設(shè)計(jì)中就必須提高前置放大器的放大倍數(shù)，而采用高倍數(shù)的前置放大器通常會(huì)引入更多的噪聲。然而，如利用探測(cè)率較低但響應(yīng)率高的探測(cè)器，得剄的探測(cè)性能會(huì)更好一些。因此，在實(shí)際的

應(yīng)用設(shè)計(jì)過(guò)程中，需要綜合考慮探測(cè)器的響應(yīng)率和探測(cè)率。圖3 -37所示為頻率與熱探測(cè)率之間的關(guān)系曲線。