為了研究電子元器件的可靠性，AN87C54就要掌握元器件失效的客觀規(guī)律，分析產(chǎn)品的失效原因，以便進(jìn)一步提高元器件的可靠性。

   雖然每個電子元器件的失效是個隨機(jī)事件，并且是偶然發(fā)生的，但大量元器件的失效卻呈現(xiàn)出一定的規(guī)律性。從產(chǎn)品的壽命特征來分析，大量使用和試驗(yàn)結(jié)果表明，電子元器件失效率曲線的特征是兩端高，中間低，呈浴盆狀，習(xí)慣稱為“浴盆曲線”，其形狀如圖2.3所示。

   圖2.3  電子元器件的失效規(guī)律

   從曲線上可以看出，電子元器件的失效率隨時間的發(fā)展變化大致可以分為三個階段：即早期失效期、偶然失效期、耗損（磨損）失效期。在不同時期產(chǎn)品呈現(xiàn)不同的失效規(guī)律，盡管給電子元器件施加的應(yīng)力沒有變。