進(jìn)行參數(shù)掃描，不但AD1980XST要進(jìn)行相關(guān)分析參數(shù)的設(shè)置，而且還需要在電路圖中修改相關(guān)元器件的參數(shù)設(shè)置。下面仍以圖3-1差分對電路為例，介紹如何采用參數(shù)掃描分析方法，計算電阻RC1和RC2同時變化時，對小信號AC分析輸出結(jié)果V(out2)的影響

   電路圖的修改

   3.4節(jié)曾對差分對電路進(jìn)行過交流小信號AC分析。為了采用參數(shù)掃描分析計算電阻RC1和RC2同時變化時對小信號AC分析輸出結(jié)果V(out2)的影響，需對圖3-1所示差分對電路做兩項修改。

   將電阻RC1和RC2阻值設(shè)置為參數(shù)：由于參數(shù)掃描分析時，要求RC1和RC2同時變化，因此應(yīng)按下述步驟將這兩個電阻的阻值設(shè)置為“變化參數(shù)”。

   按照第2章介紹的元器件參數(shù)修改方法，在圖3-1中用鼠

標(biāo)左鍵雙擊電阻RC1的阻值lOk，在屏幕上出現(xiàn)的“DisplayProperties”設(shè)置框中，將其值lOk改為{Rval）。（注意：其中大括號不可少，括號中的參數(shù)名可由用戶設(shè)置）。然后單擊OK按鈕，則電路圖中RC1符號的阻值即改為此設(shè)置值，如圖4-4 (a)所示。

   這樣，在修改后的電路中，RC1和RC2兩個電阻的阻值采用同一個參數(shù)Rval表示，這種參數(shù)就稱為Globe parameter，中文稱為全局參數(shù)。