在外界熱、電、機械等應力的作用下，在電子D1877JR元器件內(nèi)部及界面處會發(fā)生各種物理和化學的變化及效應，這些效應會對電子元器件的正常工作造成不良影響或構成威脅，嚴重時會引起失效，對此方面的研究內(nèi)容稱為可靠性物理，也叫失效物理，即產(chǎn)生失效的原因。失效物理學是可靠性工程中最主要、最基本的內(nèi)容，就是從原子和分子的角度出發(fā)，來解釋元件、材料的失效現(xiàn)象。研究它可為改進產(chǎn)品、發(fā)明新元器件、提出新技術和新工藝提供依據(jù)。簡單地說，失效物理就是研究失效機理的學科，它是“物理加工程”的基礎性技術，是電子元器件可靠性技術的重要支柱和基本方向，也是目前比較薄弱的學科領域。

   可靠性物理的研究活動，在1960年以后才廣泛地開展起來。1959年美國通用電氣公司的R．P．哈夫蘭德發(fā)表了名為“失效物理基礎”的論文，1962年美國航空公司總結了失效物理的基本方法，編寫了一整套關于失效物理的叢書，大大推動了物理失效的研究活動。1962年9月羅姆航空研制中心和伊利諾斯工藝研究所共同發(fā)起，召開了第一屆國際電子學失效物理討論會，并發(fā)表了《電子設備故障物理論文集》。以后，這項工作納入到國際電工委員會(IEC)的工作范疇，每年召開～次年會，1967年更名為國際可靠性物理討論會(International Reliability Physics Symposium，IRPS)，2014年6月第52屆年會在美國夏威夷的維克樂( Waikoloa，Hawaii)舉行。