本章首先討論可靠性物理的目標(biāo)和作用、材料學(xué)基礎(chǔ)、失效物理模型及應(yīng)用等基礎(chǔ)概念， AD1881AJST后給出電子元器件的各種基本的失效模式，并從可靠性角度出發(fā)，針對失效的原因，討論應(yīng)采取何種有效措施，來防止器件失效，維護(hù)與確保器件正�？煽康毓ぷ�，最后綜述可靠性分析方式、設(shè)備和工具等。

   失效物理的目標(biāo)和作用

   失效物理學(xué)的出現(xiàn)，為可靠性的研究開闊了視野，它廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品的研制、設(shè)計(jì)、預(yù)測、維護(hù)和使用等各個(gè)領(lǐng)域中。它能在較短的周期內(nèi)，用少量的樣品，直接快速地揭示出元器件不可靠性的問題所在，從而為設(shè)計(jì)者改進(jìn)和提高產(chǎn)品的可靠性提供依據(jù)。

   失效物理大致包括下面五個(gè)方面的基本內(nèi)容：

   1)失效模式、失效機(jī)理的分離、檢查和鑒定；

   2)用物理、數(shù)學(xué)模型來描述元器件或材料的失效機(jī)理，并對產(chǎn)品壽命進(jìn)行預(yù)測；