縱觀世界和我國(guó)可靠性技術(shù)的發(fā)展史，可靠性S8054HNM技術(shù)大體可分為四個(gè)階段。

   第一階段：調(diào)查研究階段，主要對(duì)電子產(chǎn)品可靠性問題的嚴(yán)重性、環(huán)境應(yīng)力對(duì)失效機(jī)理的影響、可靠性總體工作的內(nèi)容等進(jìn)行調(diào)查研究；

   第二階段：統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)階段，主要對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行統(tǒng)計(jì)壽命試驗(yàn)及環(huán)境試驗(yàn)，定量地得出電子元器件或整機(jī)的可靠性水平，同時(shí)制訂出各種環(huán)境試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn)；

   第三階段：可靠性物理研究階段，主要對(duì)可靠性問題的本質(zhì)（故障或失效的模式及其機(jī)理）進(jìn)行分析研究，并探討和提出各種加速試驗(yàn)的方法；

   第四階段：可靠性保證階段，也就是在了解可霏性現(xiàn)象和本質(zhì)的基礎(chǔ)上，從產(chǎn)品研制開始到使用的各個(gè)階段，加強(qiáng)可靠性管理和保證、評(píng)價(jià)、認(rèn)證及控制，建立可靠性數(shù)據(jù)收集、交換體系和數(shù)據(jù)中心。

   目前國(guó)外電子元器件可靠性方面的主要工作已經(jīng)全面而深入地展開，研究重點(diǎn)滲透到整機(jī)、系統(tǒng)可靠性與維修性(R&M)的研究工作中，隨著計(jì)算機(jī)的深入，從重視硬件可靠性轉(zhuǎn)向軟件可靠性的研究中，包括可靠性數(shù)據(jù)處理、設(shè)計(jì)等，可靠性學(xué)科正在廣泛實(shí)踐的基礎(chǔ)上加速發(fā)展。不僅如此，目前對(duì)產(chǎn)品可靠性的研究工作已經(jīng)提高到節(jié)約資源和能源的高度來認(rèn)識(shí)。通過可靠性設(shè)計(jì)，可以有效地利用材料，增長(zhǎng)產(chǎn)品使用期限，獲得體積小、重量輕的產(chǎn)品，這也是今后的可靠性研究方向之一。