其次是電子設(shè)備的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷，現(xiàn)已從試驗(yàn)室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地iW1709-xx到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動(dòng)、宇宙粒子、各種輻射等對(duì)電子元器件的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。

   最后，電子設(shè)備單位面積（體積）上電子元器件的裝置密度不斷增加。從第一代電子管產(chǎn)品到第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝著小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。而隨環(huán)境溫度的升高，電子元器件可靠性將降低，因而元器件的可靠性引起人們的極大重視。

   長(zhǎng)期以來(lái)，人們只用產(chǎn)品的技術(shù)性能指標(biāo)作為衡量電子元器件質(zhì)量好壞的標(biāo)志，這只反映了產(chǎn)品質(zhì)量好壞的一個(gè)方面，還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌，面對(duì)日益復(fù)雜的電子設(shè)備，從可靠性設(shè)計(jì)、可靠性測(cè)試到可靠性管理，對(duì)可靠性數(shù)學(xué)的要求日趨深化，需要定量地對(duì)產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)進(jìn)行考核、檢驗(yàn)和標(biāo)定，從而提高產(chǎn)品的可靠性，在使用壽命內(nèi)使其技術(shù)性能得到發(fā)揮。從某種意義上說(shuō)，可靠性數(shù)學(xué)是產(chǎn)品質(zhì)量的理論基礎(chǔ)。