1 綜述

   隨著現(xiàn)代電子產(chǎn)品的輕、薄、短、小化的發(fā)展勢(shì)頭,自動(dòng)光學(xué)測(cè)設(shè)備(AOI)正被越來越多地Q1553-45用來監(jiān)視和保證PCBA的組裝質(zhì)量。再加上目前用于PCBA組裝質(zhì)量檢測(cè)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備(AOI)檢測(cè)技術(shù)上的進(jìn)步,諸如先進(jìn)光學(xué)鏡片的采用、創(chuàng)新光路(放大倍數(shù)更大)的設(shè)計(jì)方案、更先進(jìn)、復(fù)雜的算法等新技術(shù)的綜合應(yīng)用,從而AOI己能實(shí)現(xiàn)在較高生產(chǎn)產(chǎn)能的情況下獲得較高的缺陷捕獲率。

   2,Ao丨檢測(cè)設(shè)備具有的優(yōu)點(diǎn)

   ①AOI是作為工藝過程控制的主要檢測(cè)設(shè)備,對(duì)于完善的單板測(cè)試檢查平臺(tái)具有重要的意義,AOI為追求6sIGMA品質(zhì)提供了有力、可靠的保障。

   ②AOI設(shè)備解決了∝隴,Ⅱ01類,Finc泌ch等微封裝器件的結(jié)構(gòu)性檢查的問題。

   ● 取代人工目檢,避免人工目檢的偶然性、隨機(jī)性、重復(fù)性差等問題;特別是解決了人工目檢不能定量分析貼放的偏差及焊點(diǎn)的質(zhì)量。

   ● 解決了人工目檢不能定量分析焊膏印刷的偏差及焊膏面積、體積的質(zhì)量,解決了人工目檢不能對(duì)SMT提出可靠的修正性分析建議的問題。

   ● 通過自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備SPC的數(shù)據(jù)反饋統(tǒng)計(jì)功能,制程工程師可以及時(shí)地優(yōu)化工藝參數(shù),提高生產(chǎn)質(zhì)量。

   ③AoI壩刂試設(shè)備是通用的測(cè)試檢查平臺(tái),它可以適合于多種工藝類型單板的測(cè)試及檢查。AOI檢測(cè)提高了后端測(cè)試的直通率,降低了維修成本。。

   ④AOI作為工藝性檢測(cè)的測(cè)量手段之一,為提高焊點(diǎn)的可靠性研究提供了有力的保障。

   ⑤AOI設(shè)備具有較強(qiáng)的適應(yīng)能力。