隨著電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度和自動(dòng)化程度越來越高,電子產(chǎn)品的ESD敏感度也越來越高, BAV199電子產(chǎn)品抵御ESD干擾的能力已經(jīng)成為衡量電子產(chǎn)品性能的一個(gè)重要因素。那么如何來衡量電子產(chǎn)品抗EsD干擾的能力?通過EsD抗擾度試驗(yàn)即可檢測這種能力。為此,越來越多的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)將EsD抗擾度試驗(yàn)作為推薦或強(qiáng)制性內(nèi)容納人其中。電子設(shè)各的ESD抗擾度試驗(yàn)也作為電子設(shè)各電磁兼容性測試的一項(xiàng)重要內(nèi)容被列人國家標(biāo)準(zhǔn)和國際標(biāo)準(zhǔn)。

   對不同使用環(huán)境、不同用途、不同ESD敏感度的電子產(chǎn)品,標(biāo)準(zhǔn)對ESD抗擾度試驗(yàn)的要求是不同的,但這些標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于ESD抗擾度試驗(yàn)的內(nèi)容大多都直接或間接引用GB/T17能6.2(⒙t IEC⒍OO0-4-2)《電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)》這一國家電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),并按其中的試驗(yàn)方法進(jìn)行試驗(yàn)。下面就簡要介紹一下該標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容、試驗(yàn)方法及相關(guān)要求。