插花式
發(fā)布時(shí)間:2017/6/1 20:13:41 訪問次數(shù):1135
這種方式是在圓片的選定位置用測試圖形代替整個(gè)電路芯片,其數(shù)量和位置由需要而定。分布PACUSB-U3R可以是星形、柱狀或螺線形。一般是在片子的每個(gè)象限中分布幾個(gè)測試圖形。插入的測試圖形有兩種形式:一種是由根據(jù)需要設(shè)計(jì)的一組測試結(jié)構(gòu)組成的,用于工藝控制和可靠性分析;另一種是由改變了電路金屬化連線的測試圖形組成的,它可以獲得內(nèi)部單元電路的性能,對復(fù)雜的電路比較有用。如圖13乇所示為測試圖形在圓片上的=種分布形式,圖13記(c)中,M為材料測試圖,E為延伸金屬化測試圖。
這種方式是在圓片的選定位置用測試圖形代替整個(gè)電路芯片,其數(shù)量和位置由需要而定。分布PACUSB-U3R可以是星形、柱狀或螺線形。一般是在片子的每個(gè)象限中分布幾個(gè)測試圖形。插入的測試圖形有兩種形式:一種是由根據(jù)需要設(shè)計(jì)的一組測試結(jié)構(gòu)組成的,用于工藝控制和可靠性分析;另一種是由改變了電路金屬化連線的測試圖形組成的,它可以獲得內(nèi)部單元電路的性能,對復(fù)雜的電路比較有用。如圖13乇所示為測試圖形在圓片上的=種分布形式,圖13記(c)中,M為材料測試圖,E為延伸金屬化測試圖。
相關(guān)技術(shù)資料- 2-18有些電子產(chǎn)品有多種工作方式
- 6-1插花式
熱門點(diǎn)擊
- 薄膜中的應(yīng)力
- 消像旋措施
- 光學(xué)畸變校正
- LPE主要有兩種方式
- 天線形狀的重要性
- 4種超淺結(jié)離子摻雜新技術(shù)的比較
- 氧化層厚度測量
- 膜的致密性
- 反應(yīng)離子刻蝕機(jī)(RIE)
- 二氧化硅薄膜中的雜質(zhì)
推薦技術(shù)資料
- 單片機(jī)版光立方的制作
- N視頻: http://v.youku.comN_sh... [詳細(xì)]
- 全新高端射頻儀器
- 集成32位RISC-V處理器&
- 第三代半導(dǎo)體和圖像傳感器 參數(shù)封裝應(yīng)用
- 汽車半導(dǎo)體
- 人形機(jī)器人技術(shù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及發(fā)展分
- 紫光芯片云3.0整體解決方案
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究
公網(wǎng)安備44030402000607
