但是，也發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生電容量負(fù)超差失效的情況。特別在高溫負(fù)荷工作（或試驗(yàn)）與高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)的初期， HZICT51117814X0G電容量出現(xiàn)負(fù)變化，主要由于薄膜表面吸收的水分不斷排出而代之以干燥空氣。對(duì)于聚合不良的薄膜介質(zhì)或表面吸濕嚴(yán)重的電容器，其容量減少更加明顯。此外，由于電容器的引線與鋁箔極板點(diǎn)焊不牢或點(diǎn)焊接觸電阻過(guò)大也會(huì)引電容量負(fù)超差失效。

   固體鉭電解電容器的失效機(jī)理

   固體鉭電解電容器是將鉭粉壓制成型，在高溫爐燒結(jié)而成陽(yáng)極體，其電介質(zhì)是將陽(yáng)極體放入酸中賦能而形成多孔性非晶型的五氧化二鉭( Ta。O。)介質(zhì)膜，其工作電解質(zhì)為硝酸錳溶液經(jīng)高溫?zé)岱纸庑纬傻亩趸i(Mn0：)，然后被石墨層作為引出連接用。固體鉭屯解電容器的失效機(jī)理與其結(jié)構(gòu)、材料及工藝特點(diǎn)有著密切的關(guān)系。其失效分為破壞性失效和劣化失效。前者主要是擊穿失效，后者主要是參數(shù)超差（如容量超差、漏電流增大等）失效。

    擊穿失效

   固體鉭電解電容器的介質(zhì)氧化膜五氧化二鉭(Ta。O。)，由于原材料不純或工藝中的原因而存在雜質(zhì)、裂紋、孔洞等疵點(diǎn)和缺陷，雖然鉭塊在高溫?zé)Y(jié)時(shí)，大部分被燒毀或蒸發(fā)掉，但仍有少量存在。在賦能、老練過(guò)程中，這些疵點(diǎn)在電壓、溫度的作用下成為場(chǎng)致晶化的發(fā)源地——晶核，在長(zhǎng)期作用下，促使介質(zhì)膜以較快的速度發(fā)生物理、化學(xué)變化，也就是應(yīng)力的積累，到一定時(shí)候引起介質(zhì)的局部擊穿和過(guò)熱。例如，在一定溫度下(425～450℃)因Mn0。的熱分解還原成電阻系數(shù)較大的Mn。O。和新生態(tài)氧而得到自愈；如果溫度更高

(550～800℃)無(wú)定形的介質(zhì)氧化膜還會(huì)轉(zhuǎn)變成介電性能很差的結(jié)晶型氧化膜，通常把此轉(zhuǎn)變稱為熱致晶化。如果介質(zhì)中含有雜質(zhì)，在強(qiáng)電場(chǎng)的作用下，即使在比較低的溫度下（例如，在O～100℃）也能出現(xiàn)晶化，把此稱為場(chǎng)致晶化。當(dāng)介質(zhì)中因工藝原因已出現(xiàn)晶核，則在電場(chǎng)和溫度作用下，晶區(qū)不斷擴(kuò)大，而形成晶化的氧化膜，從而導(dǎo)致漏電流急劇增大而擊穿。