失效率預(yù)計
發(fā)布時間:2018/2/9 21:10:54 訪問次數(shù):622
失效物理與元器件、HZIN404WJF22130G 材料本身的改良、設(shè)計、選擇、篩選、老化和工藝都有密切關(guān)系,同時它也關(guān)系到設(shè)備、系統(tǒng)的可靠性設(shè)計和維修性設(shè)計,還與使用、保管及技術(shù)規(guī)范有關(guān)。它是可靠性質(zhì)量保證體系中最重要的環(huán)節(jié)之一。
在可靠性設(shè)訃中,失效物理應(yīng)用在以下幾方面:
·失效率預(yù)計;
·對退化的統(tǒng)計設(shè)計;
·對失效模式、效應(yīng)和危害度分析;
·失效的檢測方式、維修方式等的維修性設(shè)計。
元器件廠家對自己生產(chǎn)的元器件未來使用狀態(tài)和可能出現(xiàn)的問題作出預(yù)測,以便給設(shè)備或系統(tǒng)設(shè)計人員提供充分的元器件數(shù)據(jù),提出合理、正確使用元器件的建議,同時,取得這些數(shù)據(jù)資料也有助于試驗(yàn)方法、保證方法乃至設(shè)計方面本身的改進(jìn),提高元器件的性能和可靠性。為此,必須通過失效物理的方法或試驗(yàn)設(shè)計安排試驗(yàn),來判斷元
器件或材料的失效模式、失效機(jī)理、退化規(guī)律或曲線,失效時間分布規(guī)律以及與各應(yīng)力的相關(guān)性,并從根本上判斷或確定加速壽命試驗(yàn)的有效性,從而為系統(tǒng)、整機(jī)提供有效的數(shù)據(jù)和資料。
利用元器件數(shù)據(jù)來預(yù)計、確定系統(tǒng)可靠性時,必須確定使用什么樣的失效物理模型,以及應(yīng)用這些數(shù)據(jù)預(yù)計的有效性和精度。這必須通過失效物理的方法分析、確定精度高和具有普遍性的預(yù)計模型,同時通過數(shù)據(jù)分析和利用適當(dāng)數(shù)學(xué)模型給出各種應(yīng)力和環(huán)境條件下的失效率數(shù)據(jù)。在前面也談到,一旦通過失效物理分析確定出新元器件的失效機(jī)理,就可以利用失效物理模型——串聯(lián)模型來確定新元器件的失效率,也就是說,把新元器件看作相互獨(dú)立的失效機(jī)理的串聯(lián)模型,再通過這些機(jī)理的失效率組合來求新元器件的失效率。
失效物理與元器件、HZIN404WJF22130G 材料本身的改良、設(shè)計、選擇、篩選、老化和工藝都有密切關(guān)系,同時它也關(guān)系到設(shè)備、系統(tǒng)的可靠性設(shè)計和維修性設(shè)計,還與使用、保管及技術(shù)規(guī)范有關(guān)。它是可靠性質(zhì)量保證體系中最重要的環(huán)節(jié)之一。
在可靠性設(shè)訃中,失效物理應(yīng)用在以下幾方面:
·失效率預(yù)計;
·對退化的統(tǒng)計設(shè)計;
·對失效模式、效應(yīng)和危害度分析;
·失效的檢測方式、維修方式等的維修性設(shè)計。
元器件廠家對自己生產(chǎn)的元器件未來使用狀態(tài)和可能出現(xiàn)的問題作出預(yù)測,以便給設(shè)備或系統(tǒng)設(shè)計人員提供充分的元器件數(shù)據(jù),提出合理、正確使用元器件的建議,同時,取得這些數(shù)據(jù)資料也有助于試驗(yàn)方法、保證方法乃至設(shè)計方面本身的改進(jìn),提高元器件的性能和可靠性。為此,必須通過失效物理的方法或試驗(yàn)設(shè)計安排試驗(yàn),來判斷元
器件或材料的失效模式、失效機(jī)理、退化規(guī)律或曲線,失效時間分布規(guī)律以及與各應(yīng)力的相關(guān)性,并從根本上判斷或確定加速壽命試驗(yàn)的有效性,從而為系統(tǒng)、整機(jī)提供有效的數(shù)據(jù)和資料。
利用元器件數(shù)據(jù)來預(yù)計、確定系統(tǒng)可靠性時,必須確定使用什么樣的失效物理模型,以及應(yīng)用這些數(shù)據(jù)預(yù)計的有效性和精度。這必須通過失效物理的方法分析、確定精度高和具有普遍性的預(yù)計模型,同時通過數(shù)據(jù)分析和利用適當(dāng)數(shù)學(xué)模型給出各種應(yīng)力和環(huán)境條件下的失效率數(shù)據(jù)。在前面也談到,一旦通過失效物理分析確定出新元器件的失效機(jī)理,就可以利用失效物理模型——串聯(lián)模型來確定新元器件的失效率,也就是說,把新元器件看作相互獨(dú)立的失效機(jī)理的串聯(lián)模型,再通過這些機(jī)理的失效率組合來求新元器件的失效率。
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