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      有金屬屏蔽外殼時(shí)的耦合關(guān)系

      發(fā)布時(shí)間:2019/1/1 16:33:55 訪問(wèn)次數(shù):897

          本案例中金屬外殼的存在反而導(dǎo)致輻射發(fā)射失敗的主要原因是金屬外殼沒(méi)有與PCB中的工作地做任何連接(直接連接或通過(guò)電容連接),ECLAMP2378P.TCT要充分發(fā)揮金屬外殼的作用至少應(yīng)做如下連接:

         (1)將電源輸人濾波電容C接至金屬外殼,位置在C電容附近,C電容置于整流橋后側(cè),效果將更好,DC/DC開(kāi)關(guān)電源可以將初級(jí)的0Ⅴ直接與金屬外殼相連;

         (2)將電源輸出的工作地通過(guò)C電容直接接至金屬外殼,如圖2。叩所示。

          

          圖2.86有金屬屏蔽外殼時(shí)的耦合關(guān)系

          通過(guò)螺釘連接到金屬外殼   C電容

          以GND為參考的I/O濾波器件,GND接至金屬外殼

          圖2.87開(kāi)關(guān)電源PCB與金屬外殼之間的連接

          【思考與啟示】

          金屬外殼并不是“保險(xiǎn)”的,金屬外殼與PCB中工作地之間的連接和連接位置的選擇很重要,隨意增加金屬外殼反而可能惡化產(chǎn)品的EMC性能;降低電纜輻射發(fā)射的目標(biāo)是降低流過(guò)電纜的共模電流,而不是一味的“接地”;分析共模電流是分析產(chǎn)品EMC的重要手段,產(chǎn)品屏蔽的目的是為了讓共模電流不流到電纜或LISN;產(chǎn)品進(jìn)行屏蔽設(shè)計(jì)時(shí),一定要考慮電纜的存在。

          本案例中金屬外殼的存在反而導(dǎo)致輻射發(fā)射失敗的主要原因是金屬外殼沒(méi)有與PCB中的工作地做任何連接(直接連接或通過(guò)電容連接),ECLAMP2378P.TCT要充分發(fā)揮金屬外殼的作用至少應(yīng)做如下連接:

         (1)將電源輸人濾波電容C接至金屬外殼,位置在C電容附近,C電容置于整流橋后側(cè),效果將更好,DC/DC開(kāi)關(guān)電源可以將初級(jí)的0Ⅴ直接與金屬外殼相連;

         (2)將電源輸出的工作地通過(guò)C電容直接接至金屬外殼,如圖2。叩所示。

          

          圖2.86有金屬屏蔽外殼時(shí)的耦合關(guān)系

          通過(guò)螺釘連接到金屬外殼   C電容

          以GND為參考的I/O濾波器件,GND接至金屬外殼

          圖2.87開(kāi)關(guān)電源PCB與金屬外殼之間的連接

          【思考與啟示】

          金屬外殼并不是“保險(xiǎn)”的,金屬外殼與PCB中工作地之間的連接和連接位置的選擇很重要,隨意增加金屬外殼反而可能惡化產(chǎn)品的EMC性能;降低電纜輻射發(fā)射的目標(biāo)是降低流過(guò)電纜的共模電流,而不是一味的“接地”;分析共模電流是分析產(chǎn)品EMC的重要手段,產(chǎn)品屏蔽的目的是為了讓共模電流不流到電纜或LISN;產(chǎn)品進(jìn)行屏蔽設(shè)計(jì)時(shí),一定要考慮電纜的存在。

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