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      靜電放電測試目的

      發(fā)布時(shí)間:2019/1/16 20:34:16 訪問次數(shù):2977

         靜電放電測試目的

         測試單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾能力。它模擬:操作人員或物體在接觸設(shè)各時(shí)的放電;人或物體對鄰近物體的放電。靜電放電可能產(chǎn)生如下后果。HCF4049UM013TR

         (1)直接通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞;

         (2)放電所引起的電場與磁場變化,造成設(shè)備的誤動作;

         (3)放電的噪聲電流導(dǎo)致器件誤動作。

         靜電放電的設(shè)各

         圖B7和圖B8分別給出了靜電放電發(fā)生器的基本線路和放電電流的波形。

        

         圖B7 靜電放電發(fā)生器

         圖B.8 靜電放電的電流波形

         圖B.8中爍表示電流峰值,上升時(shí)間扌r=(0.7~1)“。放電線路中的儲能電容Cs代表人體電容,現(xiàn)公認(rèn)I50pF比較合適。放電電阻Rd為~s30Ω,用以代表手握鑰匙或其他金屬工具的人體電阻。現(xiàn)已證明,用這種放電狀態(tài)來體現(xiàn)人體放電的模型是足夠嚴(yán)酷的。測試電壓要由低到高逐漸增加到規(guī)定值。

         靜電放電測試目的

         測試單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾能力。它模擬:操作人員或物體在接觸設(shè)各時(shí)的放電;人或物體對鄰近物體的放電。靜電放電可能產(chǎn)生如下后果。HCF4049UM013TR

         (1)直接通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞;

         (2)放電所引起的電場與磁場變化,造成設(shè)備的誤動作;

         (3)放電的噪聲電流導(dǎo)致器件誤動作。

         靜電放電的設(shè)各

         圖B7和圖B8分別給出了靜電放電發(fā)生器的基本線路和放電電流的波形。

        

         圖B7 靜電放電發(fā)生器

         圖B.8 靜電放電的電流波形

         圖B.8中爍表示電流峰值,上升時(shí)間扌r=(0.7~1)“。放電線路中的儲能電容Cs代表人體電容,現(xiàn)公認(rèn)I50pF比較合適。放電電阻Rd為~s30Ω,用以代表手握鑰匙或其他金屬工具的人體電阻,F(xiàn)已證明,用這種放電狀態(tài)來體現(xiàn)人體放電的模型是足夠嚴(yán)酷的。測試電壓要由低到高逐漸增加到規(guī)定值。

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